DISPOSITIVO DE ELEMENTO COMPUTACIONAL INTEGRADO DUAL, SISTEMA PARA MEDIR UMA CARACTERÍSTICA DE UMA AMOSTRA, E, MÉTODO PARA FABRICAR UM DISPOSITIVO.

IPC Classification

Abstract

Um dispositivo incluindo pelo menos dois Elementos Computacionais Integrados (ICEs) que interagem opticamente com uma luz de amostra para gerar uma primeira e uma segunda luz modificada é fornecido. Os pelo menos dois ICEs incluem camadas alternadas de material, cada uma das camadas tendo uma espessura selecionada de modo que a combinação linear ponderada das funções de transmissão seja similar ao vetor de regressão associado à uma característica da amostra. O dispositivo também pode incluir um detector que mede uma propriedade da primeira e da segunda luzes modificadas separadamente para gerar um primeiro sinal e um segundo sinal, respectivamente, em que a média ponderada do primeiro e segundo sinais está linearmente relacionada à característica da amostra. Também é fornecido um método para fabricação do dispositivo acima.