(11) 98705-3426
TrademarkIQ iconTrademarkIQ
Back to search
Official data from INPI

APARELHO E MÉTODOS DE RASTREAMENTO DE FOCO PREDITIVOS

ConcedidaInvention PatentPCT · IB2017058383

Application data

Number

112018076996

Type

Invention Patent

Filing

12/22/2017

Publication

04/02/2019

PCT

IB2017058383

Progress at the INPI

  1. Filing12/22/17
  2. Publication04/02/19
  3. Examination
  4. Allowance12/28/21
  5. Grant02/22/22
  6. In force12/22/37

The patent was granted on 02/22/2022 and is in force until 12/22/2037. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:12/22/2037

Leave your contact and we will alert you

We track INPI publications and let you know as soon as this case moves.

We use your details only for this alert.

Latest action published by the INPI: 02/22/2022. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

ILLUMINA, INC.

US

See this company's full portfolio

Inventors

A. A. (pessoa física)

US

C. Z. (pessoa física)

US

D. C. (pessoa física)

US

D. B. (pessoa física)

US

J. B. (pessoa física)

US

M. S. (pessoa física)

US

S. P. (pessoa física)

US

S. H. (pessoa física)

US

X. C. (pessoa física)

US

Technical data

IPC Classification

Priority claims

GB

1704770.5 · 03/24/2017

US

62/442,947 · 01/05/2017

Abstract

Um sistema de formação de imagem pode incluir um estágio de amostra compreendendo uma superfície para suportar um recipiente de amostra, recipiente de amostra com uma pluralidade de localizações de amostras; um estágio óptico que tem uma lente objetiva, sendo que o estágio óptico é posicionado em relação ao estágio de amostra para formar imagens nas localizações da amostra; um atuador fisicamente acoplado a pelo menos um dentre o estágio de amostra e o estágio óptico para mover o estágio de amostra em relação ao estágio óptico para focalizar o estágio óptico em uma localização de amostra atual; e um circuito de acionamento para determinar um ajuste de foco para um próximo local de amostra e fornecer um sinal de acionamento para o atuador antes do estágio óptico ser posicionado para gerar a imagem de uma amostra na localização de amostra seguinte, em que pelo menos um parâmetro do sinal de acionamento é determinado utilizando-se uma diferença entre um ajuste de foco para a localização de amostra atual e o ajuste de foco determinado para a localização de amostra seguinte.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 22/12/2017, observadas as condições legais

02/22/2022

RPI 2668

Deferimento

#9.1

12/28/2021

RPI 2660

28.30

Admitido o trâmite prioritário requerido através da petição nº 870210093929, de 11/10/2021, haja vista que atende ao disposto no art. 3º e art. 4º da Resolução INPI PR nº 404, de 21/12/2020, publicada na RPI nº 2608, de 29/12/2020.

11/03/2021

RPI 2652

28.10.32

Notificação de requerimento de trâmite prioritário de PPH, conforme petição nº 870210093929, de 11/10/2021.

10/26/2021

RPI 2651

Adição na publicação

#15.35

09/21/2021

RPI 2646

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

04/02/2019

RPI 2517

Alteração de dados cadastrais

#1.1

01/02/2019

RPI 2504

Patent monitoring

Track this patent in real time.

Receive alerts on INPI events, decisions, and expiry dates for your portfolio.