DISPOSITIVO PARA RETIRADA DE AMOSTRAS E PROCESSO PARA AMOSTRAGEM DE CINTAS METÁLICAS LAMINADAS E ENROLADAS EM FORMA DE UMA BOBINA

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Abstract

RESUMOPatente de Invenção: "DISPOSITIVO E MÉTODO PARA AMOSTRAGEM DE CINTAS ESPESSAS". A presente invenção refere-se a um dispositivo para amostragem de cintas metálicas laminadas e enroladas em forma de uma bobina (1), especialmente na faixa de espessura de > 12 mm, com um conjunto de enrolamento de bobina e um dispositivo separador (6) para cortar a amostra da cinta metálica (4) caracterizado pelo fato de que o conjunto de bobina apresenta, pelo menos, dois apoios (2, 3) giráveis, preferencialmente rolos côncavos, dispostos no quadrante inferior da bobina (1) posicionada sobre o conjunto de enrolamento de bobina, bem como apresenta uma condução externa (5) para cinta metálica, sendo que a condução externa (5), na área da direção do desenrolamento da cinta metálica, atrás do último apoio (3), abrange uma circunferência parcial da bobina (1) superior a 180°, possuindo meios (7) que abrandam a fricção da cinta metálica no lado interno da condução externa (5). Além disso, a invenção abrange um processo para retirada de amostras de cintas metálicas laminadas e enroladas em uma bobina (1), especialmente na faixa de espessura de sinal 12 mm com um conjunto de enrolamento de bobina e um dispositivo separador (6) para cortar a amostra da cinta metálica, de preferência através de um dispositivo consoante a invenção.