Método para sondar um material alvo eletricamente condutor, meio legível por computador, dispositivo para sondar um material alvo eletricamente condutor e usina para o processamento de um material alvo eletricamente condutor

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Abstract

MÃTODO PARA SONDAR UMA MATERIAL ALVO ELETRICAMENTE CONDUTOR MEIO LEGÃVEL POR COMPUTADOR, PRODUTO DE PROGRAMA DE COMPUTADOR,DISPOSITIVO PARA SONDAR UM MATERIAL ALVO ELETRICAMENTE CONDUTOR E USINA PARA O PROCEDIMENTO DE UM MATERIAL ELETRICAMENTE CONDUTOR. Trata-se de um método, implantado por um dispositivo de computador controlado por software e/ou por hardware dedicado, que é projetado para sondar uma material alvo eletricamente condutor (M),por exemplo metal fundido ou material semicondutor, em um vaso metalúrgico (I). No método, um sinal de medição é adquirido a partir de um sensor (4), o qual é inserido dentro do material alvo (m), durante um deslocamento relativo entre o material alvo eletricamente condutor (M) é o sensor (4), sendo que o sinal de medição é indicativo de condutividade elétrica na proximidade do sensor (4). O sinal de medição é gerado para representar as alterações temporárias em um campo eletromagnético ao redor do sensor (4), o qual é criado mediante a operação de pelo menos uma bobina (82;92) no senso (4). Com base no sinal de medição, um perfil de sinal é gerado para ser indicativo da condutividade elétrica como uma função do movimento relativo, o método permite uma sondagem da distribuição interna do material alvo (M) no vaso (1) em qualquer nível de detalhe. O perfil de sinal pode ser analisado para fornecer informações sobre zonas/camadas (S,M1,M2) que difiram em , por exemplo composição da matéria , grau de fusão ou grau de mistura