SISTEMA DE VARREDURA DE RAIOS X

IPC Classification

Priority claims

Abstract

SISTEMA E MÃTODOS DE INSPEÃÃO BASEADOS EM ESPECTROSCOPIA DE RAIOS X DE ALTA ENERGIA PARA DETERMINAR O NÃMERO ATÃMICO DE MATERIAIS.O pedido revela sistemas e métodos para varredura de raios X para identificar composição de material de um objeto sendo varrido. O sistema inclui pelo menos uma fonte de raios X para projetar um feixe de raios X sobre o objeto, onde pelo menos uma parte do feixe de raios X projetado é transmitida através do objeto, e um conjunto de detectores para medir espectros de energia dos raios X transmitidos. Os espectros de energia medidos são usados para determinar número atômico do objeto para identificar a composição de material do objeto. O sistema de varredura de raios X também pode ter um conjunto de detectores de raios X retroespalhados de alta energia colimados para medir o espectro de energia de raios X espalhados pelo objeto em um ângulo maior que 90 graus, onde o espectro de energia medido é usado em combinação com o espectro de transmissão de energia para determinar números atômicos do objeto para identificar a composição de material do objeto.