Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI
#11.1.1
10/19/2021
RPI 2650
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Official data from INPI
SISTEMAS E MÉTODOS DE INSPEÇÃO DE TOMOGRAFIA DE RAIOS X
ArquivadaInvention PatentPCT · US2018027872
Application data
Number
112019021805Type
Invention Patent
Filing
04/17/2018
Publication
05/05/2020
PCT
US2018027872 Progress at the INPI
- Filing04/17/18
- Publication05/05/20
- Abandoned
- Allowance
- Grant
- In force
The application was abandoned: examination was not requested within the 36 months following the 04/17/2018 filing, the deadline set by art. 33 of the Brazilian IP Act. The technology is in the public domain in Brazil.
Talk to a specialistLatest action published by the INPI: 10/19/2021. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants and inventors
Applicants
RAPISCAN SYSTEMS, INC.
US
Inventors
E. M. (pessoa física)
GB
Technical data
IPC Classification
Priority claims
US
62/486,130 · 04/17/2017
Abstract
É fornecido um sistema de inspeção de raios X para a varredura de itens. O sistema inclui: uma fonte de raios X estacionária estendendo ao redor de um volume de varredura retangular, e definindo múltiplos pontos de fonte a partir dos quais os raios X podem ser direcionados através do volume de varredura; uma matriz de detectores de raios X também estendendo ao redor do volume de varredura retangular e disposta para detectar raios X a partir dos pontos de fonte que passaram pelo volume de varredura; um transportador disposto para transportar os itens através do volume de varredura; e pelo menos um processador para processar os raios X detectados para produzir imagens de varredura dos itens.
Prosecution history
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
Adição na publicação
#15.35
10/19/2021
RPI 2650
Arquivamento - Art. 33 da LPI
#11.1
08/03/2021
RPI 2639
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
05/05/2020
RPI 2574
Alteração de dados cadastrais
#1.1
10/29/2019
RPI 2547
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