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Official data from INPI

APARELHO DE INSPEÇÃO DE DEFEITOS

Em AnáliseInvention PatentPCT · JP2011051583

Application data

Number

112012018564

Type

Invention Patent

Filing

01/27/2011

Publication

07/31/2018

PCT

JP2011051583

Progress at the INPI

  1. Filing01/27/11
  2. Publication07/31/18
  3. Examination
  4. Allowance05/28/19
  5. Grant07/02/19
  6. In force01/27/31

The patent was granted on 07/02/2019 and is in force until 01/27/2031. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:01/27/2031

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Latest action published by the INPI: 10/22/2019. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

N. C. (pessoa física)

JP

NIPPON STEEL & SUMITOMO METAL CORPORATION

JP

SUMITOMO METAL INDUSTRIES, LTD

JP

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Inventors

K. A. (pessoa física)

JP

K. S. (pessoa física)

JP

M. I. (pessoa física)

JP

T. S. (pessoa física)

JP

Y. N. (pessoa física)

JP

Technical data

IPC Classification

Priority claims

JP

2010-017909 · 01/29/2010

Abstract

APARELHO DE INSPEÇÃO DE DEFEITOS Trata-se de um dispositivo de inspeção de defeito que pode detectar precisamente defeitos na superfície de carga de um cano que tem uma superfície de carga inclinada para longe da extremidade de cano e defeitos em uma região de inspeção entre rosas de parafuso. Sendo que o dito dispositivo de inspeção de defeito, o qual também pode detectar defeitos na superfície externa de uma seção de lábio , é caracterizado pelo fornecimento de: uma primeira fonte de luz (20; um primeiro meio de imageamento (3) que imagea a superfície externa de uma seção de lábio (102) mediante a recepção da luz refletida emitida a partir da primeira fonte de luz e refletida para longe da superfície externa da dita seção de lábio ; uma segunda fonte de luz (7); um segundo meio de imageamento (8) que imageia uma superfície de carga ( 103) mediante a recepção da luz refletida emitida a partir da segunda fonte de luz e refletida para longe da superfície de carga; uma terceira fonte de luz (9) ; um terceiro meio de imageamento (10) que iamgeia uma região de inspeção (106) entre as roscas de parafuso mediante a recepção da luz refletida emitida a partir da terceira fonte de luz e refletida para longe da dita região de inspeção ; e um meio de inspeção que executa o processamento de imagem nas imagens obtidas pelo primeiro até o terceiro meio de imageamento com a finalidade de detecar defeitos na superfície externa da seção de lábio , na superfície de carga , e na região de inspeção entre as roscas de parafuso.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Alteração de nome deferida

#25.4

10/22/2019

RPI 2546

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 27/01/2011, observadas as condições legais

07/02/2019

RPI 2530

Deferimento

#9.1

05/28/2019

RPI 2525

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

01/08/2019

RPI 2505

Transferência deferida

#25.1

09/04/2018

RPI 2487

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

07/31/2018

RPI 2482

Exigências diversas

#1.5

Apresente documentos comprobatórios que expliquem a divergência no nome de um dos inventores que consta na publicação internacional WO 2011/093372 de 04/08/2011 Kazutaka ANAYAMA e o constante da petição inicial nº 020120069048 de 26/07/2012 Kazunori Anayama.

05/29/2018

RPI 2473

Alteração de dados cadastrais

#1.1

12/18/2012

RPI 2189

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