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PROCESSO DE FABRICAÇÃO DE UM DIELÉTRICO PARA UM DISPOSITIVO SEMICONDUTOR ELETRÔNICO, DIELÉTRICO PARA UM DISPOSITIVO SEMICONDUTOR ELETRÔNICO, TRANSISTOR, ECRÃ E DISPOSITIVO ELETRÔNICO

ExtintaInvention PatentPCT · PT2010000037

Application data

Number

112012002681

Type

Invention Patent

Filing

08/05/2010

Publication

04/12/2016

PCT

PT2010000037

Progress at the INPI

  1. Filing08/05/10
  2. Publication04/12/16
  3. Examination
  4. Allowance10/08/19
  5. Grant04/19/22
  6. Terminated09/20/22

The patent was granted on 04/19/2022 and later terminated. Protection ended before the full term and the technology is in the public domain in Brazil.

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Latest action published by the INPI: 09/20/2022. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

F. L. (pessoa física)

PT

JOZEF STEFAN INSTITUTE

SI

U. B. (pessoa física)

ES

Inventors

D. H. (pessoa física)

SI

E. F. (pessoa física)

PT

G. G. (pessoa física)

PT

L. P. (pessoa física)

PT

M. K. (pessoa física)

SI

P. B. (pessoa física)

PT

R. M. (pessoa física)

PT

Technical data

IPC Classification

Priority claims

PT

104709 · 08/05/2009

Abstract

PROCESSO DE FABRICAÃÃO DE UM DIELÃTRICO PARA UM DISPOSITIVO SEMICONDUTOR ELETRÃNICO, DIELÃTRICO PARA UM DISPOSITIVO SEMICONDUTOR ELETRÃNICO, TRANSISTOR, ECRà E DISPOSITIVO ELETRÃNICO.Esta invenção refere-se à transistores de filme fino de elevado desempenho, totalmente processados a temperaturas que não excedem os utilizando dielétricos multicomponentes amorfos baseados na mistura de materiais com banda de energia proibida elevada e de constante dielétrica (K) elevada. A invenção refere-se igualmente à utilização de materiais dielétricos misturados por impressão a jacto de tinta ou submetidos à pulverização catódica, tais como Ta2O5 com SiO2 ou Al203 ou HfO2 com SiO2 ou AL2O3. este Estes dielétricos multicomponentes permitem a produção de dielétricos amorfos para serem introduzidos em dispositivos eletrônicos de elevada estabilidade com baixas correntes de fuga, preservando ao mesmo tempo uma constante dielétrica elevada. Isto resulta na produção de transistores de filme fino baseados nestes dielétricos, como por exemplo o dielétrico resultante da mistura Ta2 O5 : SiO2 , com propriedades eléctricas excepcionais, tais como os produzidos com base no óxido de Ga-In-Zn como camada de canais e em que o dielétrico é a combinação da mistura de Ta 2 0 5 :Si0 2 , apresentando uma mobilidade de efeito de campo superior a 35 cm 2 v- 1 s - , uma tensão de limiar perto de 0 V, uma relação on/off superior a 10 (6) e uma inclinação de sublinar inferior a 0,24 V dec -1.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Manutenção da Extinção - Art. 78 inciso IV da LPI

#24.10

Em virtude da extinção publicada na RPI 2682 de 31-05-2022 e considerando ausência de manifestação dentro dos prazos legais, informo que cabe ser mantida a extinção da patente e seus certificados, conforme o disposto no artigo 12, da resolução 113/2013.

09/20/2022

RPI 2698

Extinção para fins de restauração (art. 87)

#21.6

Referente à 12ª anuidade.

05/31/2022

RPI 2682

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 05/08/2010, observadas as condições legais

04/19/2022

RPI 2676

8.7

04/14/2020

RPI 2571

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

referente ao despacho 8.5 na RPI 2548 de 05/11/2019

02/11/2020

RPI 2562

6.7

Para que seja aceita a petição 800190396116 de 18/10/2019 o valor da retribuição (cód. 212) deverá ser complementado para sem desconto.

11/12/2019

RPI 2549

8.5

Complementar 5ª, 9ª e 10ª anuidades, de acordo com tabela vigente, referente às guias 221408210660, 29409161810492636 e 29409161911277617, respectivamente.

11/05/2019

RPI 2548

Deferimento

#9.1

10/08/2019

RPI 2544

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

03/26/2019

RPI 2516

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

01/15/2019

RPI 2506

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

04/12/2016

RPI 2362

Alteração de dados cadastrais

#1.1

10/30/2012

RPI 2182

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