Invention Patent MÉTODO, SISTEMA E MEIO LEGÍVEL POR COMPUTADOR NÃO TRANSITÓRIO PARA ANÁLISE AUTOMATIZADA DE IMAGENS DE MEV de INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, QUALIDADE E TECNOLOGIA - INMETRO. — IPC G01N 15/02. Drawing published by the INPI in the Industrial Property Gazette.
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Deadline to request examination:09/01/2026(7 days left)
Latest action published by the INPI: 03/18/2025. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants and inventors
Applicants
INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, QUALIDADE E TECNOLOGIA - INMETRO.
MÉTODO, SISTEMA E MEIO LEGÍVEL POR COMPUTADOR NÃO TRANSITÓRIO PARA ANÁLISE AUTOMATIZADA DE IMAGENS DE MEV. A invenção se refere a um método para análise morfométrica obtida por meio do imageamento de estruturas por microscopia eletrônica de varredura (MEV), em especial de partículas de resíduo de tiro (GSR), por meio de processamento de imagens, utilizando um algoritmo capaz de realizar a leitura do histograma da imagem e escolher o método de segmentação apropriado para realizar a medição de parâmetros pré-determinados.
Prosecution history
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
Publicação do pedido de patente
#3.1
03/18/2025
RPI 2828
Pedido de patente depositado
#2.1
10/31/2023
RPI 2756
Requerimento de pedido de patente
#2.10
Número de Protocolo '870230077704' em 01/09/2023 09:57 (WB)
