Official data from INPI

CONJUNTO DE MEDIDOR DE DEFORMAÇÃO, E, MÉTODO PARA MEDIR DEFORMAÇÃO

PublicadaInvention Patent

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Application data

Number

102022016899

Type

Invention Patent

Filing

08/24/2022

Publication

03/14/2023

View on INPI

Progress at the INPI

Filing08/24/22
Publication03/14/23
Examination
Allowance
Grant
In force

The application was published in the RPI gazette on 03/14/2023 and is now open to any interested party. It moves on to technical examination at the INPI.

Latest action published by the INPI: 03/14/2023. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

RATIER-FIGEAC SAS

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Inventors

A. B. (pessoa física)

Technical data

IPC Classification

G01L 1/00

Priority claims

21306201.1 · 09/02/2021

Abstract

CONJUNTO DE MEDIDOR DE DEFORMAÇÃO, E, MÉTODO PARA MEDIR DEFORMAÇÃO. Um conjunto de medidor de deformação compreendendo: um medidor de deformação (10) compreendendo uma pluralidade de elementos resistivos conectados como uma ponte de Wheatstone ou meia ponte de Wheatstone; um gerador de sinal de excitação (20) disposto para fornecer um sinal de excitação para dois elementos resistivos do medidor de deformação; circuitos de deslocamento de fase (30, 40) dispostos para determinar deslocamentos de fase no sinal de excitação responsivos a mudanças em resistência dos dois elementos resistivos e um estágio final (60) configurado para emitir uma medida indicativa do deslocamento de fase como uma indicação de deformação no conjunto.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Publicação do pedido de patente

#3.1

03/14/2023

RPI 2723

Pedido de patente depositado

#2.1

10/04/2022

RPI 2700

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870220076237' em 24/08/2022 14:25 (WB)

09/06/2022

RPI 2696

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