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Official data from INPI

SISTEMA E MÉTODO PARA MEDIÇÃO DE ESPESSURA DE REFRATÁRIOS.

Em AnáliseInvention Patent

Application data

Number

102021000672

Type

Invention Patent

Filing

01/14/2021

Publication

07/26/2022

Applicants and inventors

Applicants

SAINT-GOBAIN DO BRASIL PRODUTOS INDUSTRIAIS E PARA CONSTRUÇÃO LTDA.

SP, BR

Inventors

H. L. (pessoa física)

BR

Technical data

Abstract

SISTEMA E MÉTODO PARA MEDIÇÃO DE ESPESSURA DE REFRATÁRIOS. A presente invenção se refere a um sistema e um método para medição de espessura de refratários compreendendo um dispositivo de medição de fluxo de calor para medir o fluxo de calor que flui de uma face quente para uma face fria do refratário, um núcleo envolvido por uma camisa termicamente isolante compreendendo, em que o núcleo conduz, entre uma primeira e uma segunda faces, calor da face quente do refratário para a face fria do refratário; e um aparelho de medição configurado para: medir continuamente a temperatura na primeira face do núcleo e na segunda face do núcleo; determinar o fluxo de calor que flui através do dispositivo de medição de fluxo de calor e determinar a espessura do material refratário por meio de condutividade térmica equivalente do material refratário.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Alteração de sede deferida

#25.7

03/12/2024

RPI 2775

Publicação do pedido de patente

#3.1

07/26/2022

RPI 2690

Pedido de patente depositado

#2.1

04/20/2021

RPI 2624

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870210004760' em 14/01/2021 15:38 (WB)

01/26/2021

RPI 2612

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