PROCESSO E DISPOSITIVO PARA INSPEÇÃO DA SUPERFÍCIE DE UMA FITA EM MOVIMENTO

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Abstract

PROCESSO E DISPOSITIVO PARA INSPEÇÃO DA SUPERFÍCIEDE UMA FITA EM MOVIMENTO. A invenção refere-se a um processo para inspeção de pelo menos uma superfície de uma fita (B) em movimento em um sentido de deslocamento de fita (v) por um inspetor (I), sendo que a superfície da fita (B) é irradiada com pelo menos uma primeira fonte de luz (1, 1') e uma segunda fonte de luz (2,2') e sendo que a primeira fonte de luz (1, '1) emite luz, sob uma primeira faixa de ângulo irradiação ( 1), sobre uma primeira região de superfície (H) e a segunda fonte de luz (2, 2') emite luz, sob uma segunda faixa de ângulo de irradiação ( 2), sobre uma segunda região de superfície (D) da superfície da fita (B), e a primeira fonte de luz (1, 1') e a segunda fonte de luz (2, 2') são operadas com uma frequência de pulsos (f) predeterminada de modo pulsado alternadamente, de maneira que a superfície da fita (B) é irradiada alternadamente na primeira região de superfície (H) e na segunda região de superfície (D), e a primeira região de superfície (H) irradiada pela primeira fonte de luz (1, 1') e a segunda região de superfície (D) irradiada pela segunda fonte de luz (2,2 ') podem ser observadas pelo inspetor (I) através do espelho (4, 4') no campo escuro.