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Official data from INPI

DISPOSITIVO DE INSPEÇÃO E MÉTODO PARA INSPECIONAR UM PADRÃO DE ADESIVO EM UM SUBSTRATO

ConcedidaInvention Patent

Application data

Number

102017014424

Type

Invention Patent

Filing

07/03/2017

Publication

05/02/2018

Progress at the INPI

  1. Filing07/03/17
  2. Publication05/02/18
  3. Examination
  4. Allowance07/04/23
  5. Grant09/12/23
  6. In force07/03/37

The patent was granted on 09/12/2023 and is in force until 07/03/2037. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:07/03/2037

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Latest action published by the INPI: 09/12/2023. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

N. C. (pessoa física)

US

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Inventors

A. W. (pessoa física)

DE

E. L. (pessoa física)

DE

Technical data

Priority claims

DE

202016103570.8 · 07/04/2016

US

15/632,334 · 06/24/2017

Abstract

Dispositivos e métodos de inspeção para inspecionar um padrão de adesivo em um substrato são descritos. O dispositivo de inspeção inclui pelo menos um sensor tendo uma cabeça de sensor de calor para detectar um padrão da microesfera adesiva, um gabinete para abrigar a cabeça do sensor de calor, e um controlador. Dados de referência representando um padrão de adesivo de-sejado são inicialmente fornecidos a um controlador. Uma faixa de tolerância predeterminada para o padrão de adesivo desejado também é fornecida ao con-trolador. Uma microesfera adesiva é descarregada sobre um substrato a partir de um bocal. Um padrão da microesfera adesiva descarregada é, então, detec-tado pelo sensor quando o substrato se move. Os sinais que representem o pa-drão detectado são recebidos a partir do sensor no controlador. Finalmente, os sinais que representam o padrão de adesivo detectado são comparados com a faixa de tolerância do padrão de adesivo desejado.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 03/07/2017, observadas as condições legais

09/12/2023

RPI 2749

Deferimento

#9.1

07/04/2023

RPI 2739

Parecer de pré-exame

#6.23

02/23/2023

RPI 2720

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

07/07/2020

RPI 2583

Publicação do pedido de patente

#3.1

05/02/2018

RPI 2469

Pedido de patente depositado

#2.1

04/03/2018

RPI 2465

Exigência - art. 21 da LPI

#2.5

02/14/2018

RPI 2458

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '020170002294' em 03/07/2017 16:19 (RJ)

01/30/2018

RPI 2456

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