Concessão da patente
#16.1
Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 03/07/2017, observadas as condições legais
09/12/2023
RPI 2749
Application data
Number
102017014424Type
Filing
Publication
The patent was granted on 09/12/2023 and is in force until 07/03/2037. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.
Protection valid until:07/03/2037
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Applicants
N. C. (pessoa física)
US
Inventors
A. W. (pessoa física)
DE
E. L. (pessoa física)
DE
IPC Classification
Priority claims
DE
202016103570.8 · 07/04/2016
US
15/632,334 · 06/24/2017
Abstract
Dispositivos e métodos de inspeção para inspecionar um padrão de adesivo em um substrato são descritos. O dispositivo de inspeção inclui pelo menos um sensor tendo uma cabeça de sensor de calor para detectar um padrão da microesfera adesiva, um gabinete para abrigar a cabeça do sensor de calor, e um controlador. Dados de referência representando um padrão de adesivo de-sejado são inicialmente fornecidos a um controlador. Uma faixa de tolerância predeterminada para o padrão de adesivo desejado também é fornecida ao con-trolador. Uma microesfera adesiva é descarregada sobre um substrato a partir de um bocal. Um padrão da microesfera adesiva descarregada é, então, detec-tado pelo sensor quando o substrato se move. Os sinais que representem o pa-drão detectado são recebidos a partir do sensor no controlador. Finalmente, os sinais que representam o padrão de adesivo detectado são comparados com a faixa de tolerância do padrão de adesivo desejado.
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
#16.1
Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 03/07/2017, observadas as condições legais
09/12/2023
RPI 2749
#9.1
07/04/2023
RPI 2739
#6.23
02/23/2023
RPI 2720
#6.6.1
07/07/2020
RPI 2583
#3.1
05/02/2018
RPI 2469
#2.1
04/03/2018
RPI 2465
#2.5
02/14/2018
RPI 2458
#2.10
Número de Protocolo '020170002294' em 03/07/2017 16:19 (RJ)
01/30/2018
RPI 2456
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