(11) 98705-3426
TrademarkIQ iconTrademarkIQ
Back to search
Official data from INPI

MÉTODO DE POSICIONAMENTO AUTOMÁTICO PARA MONTAGEM DE SONDAS PARA VARREDURA E ESPECTROSCOPIA ÓPTICA IN SITU E DISPOSITIVO

ConcedidaInvention Patent

Application data

Number

102017007917

Type

Invention Patent

Filing

04/17/2017

Publication

10/30/2018

Progress at the INPI

  1. Filing04/17/17
  2. Publication10/30/18
  3. Examination
  4. Allowance08/13/24
  5. Grant10/08/24
  6. In force04/17/37

The patent was granted on 10/08/2024 and is in force until 04/17/2037. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:04/17/2037

Leave your contact and we will alert you

We track INPI publications and let you know as soon as this case moves.

We use your details only for this alert.

Latest action published by the INPI: 10/08/2024. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, QUALIDADE E TECNOLOGIA - INMETRO

RJ, BR

IVISION SISTEMAS DE IMAGEM E VISÃO S.A

MG, BR

U. G. (pessoa física)

MG, BR

See this company's full portfolio

Inventors

A. V. (pessoa física)

BR

B. A. (pessoa física)

BR

B. O. (pessoa física)

BR

C. A. (pessoa física)

BR

C. S. (pessoa física)

BR

H. M. (pessoa física)

BR

J. N. (pessoa física)

BR

L. A. (pessoa física)

BR

L. E. (pessoa física)

BR

L. C. (pessoa física)

BR

L. M. (pessoa física)

BR

T. V. (pessoa física)

BR

Technical data

Abstract

O presente pedido de patente descreve um método e um dispositivo capazes de realizar, automaticamente, a fixação de uma estrutura plasmônica microscópica a uma estrutura de suporte macroscópica. O procedimento e o dispositivo propostos permitem a construção de sondas que podem ser utilizadas para procedimentos de microscopia de varredura por sonda (do inglês, Scanning Probe Microscopy ou SPM), incluindo seu acoplamento com sistemas ópticos, gerando as técnicas de microscopia óptica de varredura por sonda (do inglês Scanning Probe Optical Microscopy ou SPOM), como a microscopia óptica de campo próximo (do inglês Scanning Near-field Optical Microscopy ou SNOM) ou a espectroscopia Raman por efeito de sonda (do inglês Tip Enhanced Raman Spectroscopy ou TERS). O método e dispositivo propostos baseiam-se em recursos de visão computacional e de controle de posicionamento em malha fechada utilizando-se de retroalimentação visual.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Concessão da patente

#16.1

Prazo de Validade: 20 (vinte) anos contados a partir de 17/04/2017, observadas as condições legais

10/08/2024

RPI 2805

Deferimento

#9.1

08/13/2024

RPI 2797

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

04/09/2024

RPI 2779

Parecer de pré-exame

#6.23

08/22/2023

RPI 2746

Publicação do pedido de patente

#3.1

10/30/2018

RPI 2495

Pedido de patente depositado

#2.1

08/08/2017

RPI 2431

Exigência - art. 21 da LPI

#2.5

06/27/2017

RPI 2425

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '870170025264' em 17/04/2017 16:57 (WB)

04/25/2017

RPI 2416

Related

Same category

Patent monitoring

Track this patent in real time.

Receive alerts on INPI events, decisions, and expiry dates for your portfolio.