Invention Patent DISPOSITIVO METÁLICO PARA MICROSCOPIA POR VARREDURA POR SONDA E MÉTODO DE FABRICAÇÃO DO MESMO de INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, QUALIDADE E TECNOLOGIA - INMETRO — IPC G01Q 60/22. Drawing published by the INPI in the Industrial Property Gazette.
The patent was granted on 12/28/2021 and is in force until 12/12/2036. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.
Protection valid until:12/12/2036
Latest action published by the INPI: 12/28/2021. We update with every new RPI gazette, published weekly.
Applicants and inventors
Applicants
INSTITUTO NACIONAL DE METROLOGIA, QUALIDADE E TECNOLOGIA - INMETRO
DISPOSITIVO METÁLICO PARA MICROSCOPIA POR VARREDURAPOR SONDA E MÉTODO DE FABRICAÇÃO DO MESMOA presente invenção refere-se a um dispositivo para aplicações emmicroscopia por varredura por sonda e um método de fabricação domesmo. Referido dispositivo metálico compreende um corpo único (1)disposto em duas porções (2) e (3), sendo que a segunda porção (3)apresenta uma ponta submicrométrica (4) que define um ápice nanométrico(7). A presente invenção também fornece um método de fabricação de umasonda de alta eficiência óptica para microscopia por varredura por sonda.
Prosecution history
Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).
Concessão da patente
#16.1
20 (vinte) anos contados a partir de 12/12/2016, observadas as condições legais
12/28/2021
RPI 2660
Deferimento
#9.1
10/13/2021
RPI 2649
Exigência - art. 36 da LPI
#6.1
05/11/2021
RPI 2627
Exigência preliminar
#6.21
08/11/2020
RPI 2588
Publicação do pedido de patente
#3.1
07/17/2018
RPI 2480
Pedido de patente depositado
#2.1
08/22/2017
RPI 2433
Requerimento de pedido de patente
#2.10
Número de Protocolo 870160074760 em 12/12/2016 05:21(WB).
