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Official data from INPI

MÉTODO E EQUIPAMENTO DE POSICIONAMENTO AUTOMÁTICO PARA MICROSCOPIA POR VARREDURA DE SONDA E ESPECTROSCOPIA ÓPTICA IN SITU

Em AnáliseInvention Patent

Application data

Invention Patent MÉTODO E EQUIPAMENTO DE POSICIONAMENTO AUTOMÁTICO PARA MICROSCOPIA POR VARREDURA DE SONDA E ESPECTROSCOPIA ÓPTICA IN SITU de IVISION SISTEMAS DE IMAGEM E VISÃO S.A — IPC G01J 3/44
Invention Patent MÉTODO E EQUIPAMENTO DE POSICIONAMENTO AUTOMÁTICO PARA MICROSCOPIA POR VARREDURA DE SONDA E ESPECTROSCOPIA ÓPTICA IN SITU de IVISION SISTEMAS DE IMAGEM E VISÃO S.A — IPC G01J 3/44. Drawing published by the INPI in the Industrial Property Gazette.

Number

102015011233

Type

Invention Patent

Filing

05/15/2015

Publication

06/05/2018

Progress at the INPI

  1. Filing05/15/15
  2. Publication06/05/18
  3. Examination
  4. Allowance12/21/21
  5. Grant03/15/22
  6. In force05/15/35

The patent was granted on 03/15/2022 and is in force until 05/15/2035. Until then, no one may make, use or sell the invention in Brazil without the owner's authorisation.

Protection valid until:05/15/2035

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Latest action published by the INPI: 06/14/2022. We update with every new RPI gazette, published weekly.

Applicants and inventors

Applicants

IVISION SISTEMAS DE IMAGEM E VISÃO S.A

MG, BR

U. G. (pessoa física)

MG, BR

Inventors

A. V. (pessoa física)

BR

C. S. (pessoa física)

BR

H. M. (pessoa física)

BR

J. N. (pessoa física)

BR

L. A. (pessoa física)

BR

L. E. (pessoa física)

BR

L. C. (pessoa física)

BR

Technical data

Abstract

O presente pedido de patente descreve um método e um equipamento capazes de posicionar automaticamente uma sonda usada para procedimentos de microscopia de varredura por sonda (do inglês, Scanning Probe Microscopy ou SPM), incluindo seu acoplamento com sistemas ópticos, como em microscopia óptica de campo próximo (do inglês Scanning Near-field Optical Microscopy ou SNOM) ou espectroscopia Raman por efeito de sonda (do inglês Tip Enhanced Raman Spectroscopy ou TERS), que exigem que a mesma seja precisamente posicionada e manipulada. O método e equipamento propostos baseiam-se em recursos de visão computacional e de controle de posicionamento em malha fechada utilizando-se a retroalimentação visual. Experimentos de SPM, SNOM e TERS são úteis em indústrias de manufatura de precisão, microeletrônica e biomédica, dentre outras áreas de ciência e tecnologia em que tal monitmamento resulta em uma melhora de qualidade e confiabilidade dos produtos.

Prosecution history

Publications in the Brazilian Industrial Property Gazette (RPI).

Transferência deferida

#25.1

06/14/2022

RPI 2684

Transferência em exigência

#25.3

A fim de atender a transferência de parte dos direitos, requerida através da petição nº 870210073031 de 10/08/2021, é necessário apresentar documento que comprove que o representante da cedente tem poderes para realizar tal ato. Além disso, é preciso apresentar a guia de cumprimento de exigência.

03/22/2022

RPI 2672

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 15/05/2015, observadas as condições legais

03/15/2022

RPI 2671

Deferimento

#9.1

12/21/2021

RPI 2659

Exigência preliminar (variante)

#6.22

12/15/2020

RPI 2606

Publicação do pedido de patente

#3.1

06/05/2018

RPI 2474

Pedido de patente depositado

#2.1

05/08/2018

RPI 2470

Requerimento de pedido de patente

#2.10

Número de Protocolo '014150000760' em 15/05/2015 15:47 (MG)

04/24/2018

RPI 2468

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