(11) 98705-3426
TrademarkIQ íconeTrademarkIQ
Voltar para busca
Dado oficial do INPI

ASSINATURA DE COSTURA DE FOTORRECEPTOR.

IndeferidaPatente de Invenção

Dados do pedido

Número

PI9902033

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

05/04/1999

Publicação

01/02/2000

Andamento no INPI

  1. Depósito05/04/99
  2. Publicação01/02/00
  3. Exame
  4. Indeferido25/01/11
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido indeferido em 25/01/2011 e o recurso não mudou a decisão. A invenção não chegou a patente e a tecnologia está em domínio público no Brasil.

Falar com um especialista

Última movimentação publicada pelo INPI: 25/01/2011. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

X. C. (pessoa física)

US

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

G. R. (pessoa física)

US

J. P. (pessoa física)

US

M. S. (pessoa física)

US

R. S. (pessoa física)

US

R. B. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

055591 · 06/04/1998

Resumo técnico

xxatente de Invenção: ''ASSINATURA DE COSTURA DE FOTORRECEPTOR'' . Um método para prover um sistema de diagnóstico automatizado, altamente inteligente que identifique a necessidade de se trocar peças específicas de modo a minimizar o tempo de paralisação da máquina ao invés de precisar localizar defeitos em um serviço extensivo. Em particular, um esquema de análise de teste lógico, sistemático, para acessar a operação da máquina a partir de um sistema de sensor simples e para ser capaz de identificar peças e componentes que precisam de troca é provido por uma série de primeiro nível de testes pelo controle para monitorar componentes para o recebimento de um primeiro nível de dados e por uma série de segundo nível de testes pelo controle por monitorar componentes para o rcebimento de um segundo nível de dados. Cada um dos testes de primeiro nível e dos dados de primeiro nível é capaz de identificar um primeiro nível de defeito e peça independentemente de qualquer outro teste. Cada um dos testes de segundo nível e dos dados de segundo nível é uma combinação de testes de primeiro nível e de dados de primeiro nível ou uma combinação de um teste de primeiro nível e de dados de primeiro nível e de um teste de terceiro nível e de dados de terceiro nível. Os testes de segundo nível e os dados de segundo nível são capazes de identificar os segundo e terceiro níveis de defeito de peça. Os códigos são armazenados e exibidos para manifestarem defeitos de peças específicos.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Indeferimento mantido em recurso

#9.2.4

MANTIDO O INDEFERIMENTO UMA VEZ QUE NÃO FOI APRESENTADO RECURSO DENTRO DO PRAZO LEGAL.

25/01/2011

RPI 2090

Indeferimento

#9.2

Indefiro o pedido de acordo com o artigo 8º combinado com artigo 13 da LPI

31/08/2010

RPI 2069

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

02/02/2010

RPI 2039

Publicação do pedido de patente

#3.1

01/02/2000

RPI 1517

Relacionados

Da mesma categoria

Monitoramento de patentes

Acompanhe esta patente em tempo real.

Receba alertas de despachos, decisões e vencimentos do INPI para o seu portfólio.