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Dado oficial do INPI

CONTROLE DE TC SEN SENSOR.

IndeferidaPatente de Invenção

Dados do pedido

Número

PI9901239

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

05/04/1999

Publicação

01/02/2000

Andamento no INPI

  1. Depósito05/04/99
  2. Publicação01/02/00
  3. Exame
  4. Indeferido25/01/11
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido indeferido em 25/01/2011 e o recurso não mudou a decisão. A invenção não chegou a patente e a tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 25/01/2011. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

X. C. (pessoa física)

US

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Inventores

G. R. (pessoa física)

US

J. P. (pessoa física)

US

M. S. (pessoa física)

US

R. S. (pessoa física)

US

R. B. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

055547 · 06/04/1998

Resumo técnico

Patente de Invenção: "CONTROLE DE TC SEM SENSOR" . Método para obter um sistema de diagnóstico automático, altamente inteligente, que identifica a necessidade de substituir peças específicas para minimizar o tempo de manutenção da máquina, em vez de exigir uma extensa detecção e correção de falhas de manutenção. Particularmente, é obtido um esquema de análise de testes lógicos, sistemática, para avaliar a operação da máquina a partir de um sistema de sensor simples e ser capaz de localizar com exatidão peças e componentes que necessitam de substituição por uma série de um primeiro nível de testes pelo controle, para monitorar componentes para receber um primeiro nível de dados e por uma série de segundo nível de testes pelo controle, para monitorar componentes para receber um segundo nível de dados. Cada um dos testes de primeiro nível e dados de primeiro nível é capaz de identificar um primeiro nível de falhas de peças, independentemente de qualquer outro teste. Cada um dos testes de segundo nível e dados de segundo nível é uma combinação de testes de primeiro nível e dados de primeiro nível ou uma combinação de um teste de primeiro nível e dados de primeiro nível e um teste de terceiro nível e dados de terceiro nível. Os testes de segundo nível e dados de segundo nível são capazes de identificar segundos e terceiros níveis de falhas de peças. Os códigos são armazenados e exibidos para manifestar falhas de peças específicas.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Indeferimento mantido em recurso

#9.2.4

MANTIDO O INDEFERIMENTO UMA VEZ QUE NÃO FOI APRESENTADO RECURSO DENTRO DO PRAZO LEGAL.

25/01/2011

RPI 2090

Indeferimento

#9.2

Indefiro o pedido de acordo com o artigo 8º combinado com artigo 13 da LPI

31/08/2010

RPI 2069

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

26/01/2010

RPI 2038

Publicação do pedido de patente

#3.1

01/02/2000

RPI 1517

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