Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI
#11.1.1
08/06/2004
RPI 1744
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Dado oficial do INPI
PROCESSO PARA TESTAR UM COMPONENTE ELETRÔNICO
ArquivadaPatente de InvençãoPCT · US1997018772
Dados do pedido
Número
PI9714892Tipo
Patente de Invenção
Depósito
15/10/1997
Publicação
15/08/2000
PCT
US1997018772 Andamento no INPI
- Depósito15/10/97
- Publicação15/08/00
- Arquivado
- Deferimento
- Concessão
- Em vigor
Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 15/10/1997, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 08/06/2004. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
Minnesota Mining And Manufacturing Company
US
Inventores
M. G. (pessoa física)
US
Dados técnicos
Resumo técnico
"PROCESSO PARA TESTAR UM COMPONENTE ELETRÔNICO" A presente invenção fornece um processo para testar um componente eletrônico compreendendo a exposição do componente eletrônico em um líquido de teste compreendendo hidrofluoroéter que é essencialmente não inflamável. Preferivelmente o líquido de teste é compreendido de 90% em peso a 100% em peso do hidrofluoroéter. Exemplos de processos de teste de componentes eletrônicos em que os hidrofluoroéteres podem ser usados inclui o teste para a hermeticidade de uma cavidade selada, um teste de choque térmico, uma combustão líquida em teste e um teste de triagem de tensão ambiental (ESS).
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Arquivamento - Art. 33 da LPI
#11.1
21/10/2003
RPI 1711
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
15/08/2000
RPI 1545
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