Arquivamento por falta de pagamento
#8.6
Referente a 5ª,6ª e 7ª anuidades.
02/08/2005
RPI 1804
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Dado oficial do INPI
MICROSCÓPIO ELETRÔNICO DE ESCANEAMENTO
Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · GB1997003136
Dados do pedido
Número
PI9713032Tipo
Patente de Invenção
Depósito
14/11/1997
Publicação
11/04/2000
PCT
GB1997003136 Andamento no INPI
- Depósito14/11/97
- Publicação11/04/00
- Arquivado
- Deferimento
- Concessão
- Em vigor
Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 02/08/2005. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
Leo Electron Microscopy Limited
GB
Inventores
A. C. (pessoa física)
FR
D. B. (pessoa física)
GB
P. S. (pessoa física)
FR
R. S. (pessoa física)
FR
Dados técnicos
Classificação IPC
Prioridades unionistas
GB
96 23768.0 · 15/11/1996
Resumo técnico
Patente de Invenção: "MICROSCÓPIO ELETRÔNICO DE ESCANEAMENTO" . Microcópio eletrônico de escapamento que tem meios (1, 3) para a geração de um feixe de elétrons que é escaneado sobre um espécime (11) mantido dentro de um suporte (12) em uma câmara (5) que contém um meio gasoso. Um potencial negativo é aplicado ao suporte (12) de modo a gerar um campo elétrico que acelera elétrons secundários formados pela interação do feixe primário com o espécime (11), em uma direção para fora da superfície do espécime e para dentro de uma zona de colisão (21) na câmara. Naquela zona, os elétrons secundários acelerados colidem com moléculas de gás do meio gasoso, assim iniciando uma cascata de colisões que, de fato, amplificam o sinal eletrônico secundário. Este sinal (que pode tomar a forma de fótons gerados como resultado das colisões) é detectado por um meio de detecção (10, 7) tal como um fotomultiplicador.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
11/04/2000
RPI 1527
Monitoramento de patentes
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