DISPOSITIVO DE DISCO ÓPTICO E MÉTODO PARA PROCESSAMENTO DE SUBSTITUIÇÃO PARA UM DISCO ÓPTICO.

Classificação IPC

Prioridades unionistas

Resumo técnico

Patente de Invenção: "DISPOSITIVO DE DISCO ÓTICO E MÉTODO PARA PROCESSAMENTO DE SUBSTITUIÇÃO PARA UM DISCO ÓTICO" . Na presente invenção, em um disco ótico, em que dados devem ser gravados em unidades de um bloco de ECC construído por 16 setores, dados fictícios são gravados no momento da fabricação ou no momento inicial, tal como o momento de iniciar a aplicação, em seguida, os dados fictícios são reproduzidos para determinar um setor com defeito primário, o endereço do setor que é determinado para ter o defeito primário é gravado no disco ótico, e, no momento da gravação de dados, a gravação de dados é efetuada em unidade de um bloco de ECC, durante salto sobre o setor com o defeito primário. Ainda, no disco ótico, em que dados devem ser gravados em unidades de um bloco de ECC, os dados são gravados em outro momento da gravação de dados que não o momento inicial, em seguida, os dados são reproduzidos para determinar um bloco de ECC, tendo um setor com defeito secundário e dados do bloco de ECC, que são determinados para ter o setor com defeito secundário, são gravados em um bloco de ECC que é preparado separadamente. Ainda, no disco ótico, em que dados devem ser gravados em unidades de um bloco de ECC construído por 16 setores, dados fictícios são gravados no momento da fabricação ou no momento inicial, tal como o momento de iniciar a aplicação, em seguida, os dados fictícios são reproduzidos para determinar um setor com defeito primário, o endereço do setor que é determinado para ter o defeito primário é gravado no disco ótico, a gravação de dados é efetuada em unidades de um dispositivo, durante salto sobre o setor com o defeito primário, no momento da gravação de dados, dados são gravados em outro momento de gravação de dados que não o momento inicial, os dados são reproduzidos para determinar um bloco de ECC tendo um setor com defeito secundário e os dados do bloco de ECC, que são determinados para ter o setor com defeito secundário são gravados em um bloco de ECC que é preparado separadamente.