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Dado oficial do INPI

PROCESSO E DISPOSITIVO DE DETECÇÃO DE DEFEITOS QUE SURGEM NA SUPERFÍCIE DE UM PRODUTO METALÚRGICO

Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · FR1995000792

Dados do pedido

Número

PI9510592

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

16/06/1995

Publicação

27/04/1999

PCT

FR1995000792

Andamento no INPI

  1. Depósito16/06/95
  2. Publicação27/04/99
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 09/09/2003. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

U. L. (pessoa física)

FR

Inventores

M. P. (pessoa física)

FJ

Dados técnicos

Classificação IPC

Resumo técnico

Patente de Invenção "PROCESSO E DISPOSITIVO DE DETECÇÃO DE DEFEITOS QUE SURGEM NA SUPERFÍCIE DE UM PRODUTO METALÚRGICO". Para detectar esses defeitos, ilumina-se a superfície por dois feixes planos (13,14) de luz coerente de comprimento de onda situado nas proximidades dos limites do domínio visível. Os dois feixes, gerados, por exemplo, por diodos laser (11, 12) ficam localizados em um mesmo plano (P) sensivelmente ortogonal à superfície (2) do produto, para criar sobre essa superfície um só traço luminoso (T), e dirigidos obliquamente um em direção ao outro com ângulos de incidência (i) sensivelmente iguais. Mede-se, segundo uma direção (18) ortogonal a essa superfície e a esse comprimento de onda, a iluminação ao longo desse traço, por exemplo por uma câmera (17) de rede linear, uma forte redução localizada da iluminação sendo reveladora de um defeito. Aplicação à detecção de orificios ou riscos sobre produtos metalúrgicos brutos de fundição contínua.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 5ª, 6ª, 7ª, 8ª anuidades.

09/09/2003

RPI 1705

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

27/04/1999

RPI 1477

Monitoramento de patentes

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