Carta-patente expirada
#21.1
Patente extinta em 25/10/2015
08/12/2015
RPI 2344
Dados do pedido
Número
PI9502751Tipo
Depósito
Publicação
Carta-patente expirada em 08/12/2015: o prazo de proteção chegou ao fim. A tecnologia está em domínio público e pode ser explorada livremente no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 08/12/2015. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
Johnson & Johnson
US
Inventores
J. E. (pessoa física)
US
M. D. (pessoa física)
US
P. S. (pessoa física)
US
R. E. (pessoa física)
US
Classificação IPC
Prioridades unionistas
US
257.857 · 10/06/1994
Resumo técnico
Patente de Invenção: "SISTEMA E MÉTODO PARA A INSPEçÃO DE LENTES" . Trata-se de um sistema e método para a inspeçÃo de lentes oftálmicas. O sistema compreende um sub-sistema de transporte para mover as lentes para uma posição de inspeção, e um sub-sistema de iluminação para gerar um feixe luminoso e para dirigir o feixe luminoso através das lentes. O sistema compreende ainda um sub-sistema de formação de imagens para gerar um conjunto de sinais que representam as partes selecionadas do feixe luminoso transmitido através das lentes, e um sub-sistema de processamento para processar esses sinais de acordo com um programa predeterminado. O sub-sistema de iluminação inclui uma fonte de luz para gerar um feixe luminoso, e um difusor para formar esse feixe luminoso com uma intensidade geralmente uniforme através da seção transversal do feixe luminoso. O sub-sistema de iluminação inclui ainda um conjunto de lentes para focalizar uma parte do feixe luminoso em um plano de imagem, e para focalizar uma parte do feixe luminoso em um ponto focal na frente do plano de imagem, para formar um padrão de fundo difuso no plano de imagem.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#21.1
Patente extinta em 25/10/2015
08/12/2015
RPI 2344
#16.1
25/10/2005
RPI 1816
#9.1
26/07/2005
RPI 1803
#6.1
08/03/2005
RPI 1783
#6.1
13/10/2004
RPI 1762
#7.1
25/05/2004
RPI 1742
#6.6
O requerente deverá apresentar, de acordo com o art. 34 "I" da LPI, as objeções, buscas de anterioridade e resultados de exame para concessão de pedido correspondente em outros países.
13/02/2002
RPI 1623
#3.1
16/01/1996
RPI 1311
#2.1
18/07/1995
RPI 1285
Do mesmo titular
Da mesma categoria
Monitoramento de patentes
Receba alertas de despachos, decisões e vencimentos do INPI para o seu portfólio.