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Dado oficial do INPI

SISTEMA DE PERFIL VIRTUAL COM DOIS MEDIDORES

ArquivadaPatente de InvençãoPCT · US1994008801

Dados do pedido

Número

PI9407101

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

04/08/1994

Publicação

27/08/1996

PCT

US1994008801

Andamento no INPI

  1. Depósito04/08/94
  2. Publicação27/08/96
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: a exigência técnica do INPI não foi cumprida no prazo (art. 36 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 13/02/2002. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

D. C. (pessoa física)

US

M. C. (pessoa física)

US

MX Acquition Company

MG, BR

Inventores

B. P. (pessoa física)

GB

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

08/102,055 · 04/08/1993

Resumo técnico

Patente de Invenção "SISTEMA DE PERFIL VIRTUAL COM DOIS MEDIDORES" compreendendo um sistema de perfil para medir o perfil de uma tira de material produzida em um laminador reversível, no qual a direção do percurso da tira é reversível, tal sistema compreendendo: - Um único medidor que mede a espessura da tira, e gera sinais de espessura; - Um dispositivo móvel ligado ao medidor para mover controlavelmente o medidor transversalmente à tira, de modo que o medidor meça a espessura da tira em diferentes pontos atráves da largura da tira ao longo do comprimento da mesma em uma passagem da tira através do medidor, e mantendo o medidor em uma posição estacionária em uma outra passagem da tira através do mesmo, de modo que o medidor meça a espessura da tira em diferentes pontos ao longo de uma linha longitudinal da tira, ao longo do referido comprimento; e - Um meio para interpretar as medições da espessura da tira em diferentes pontos em dados de perfil, estando tal meio de interpretação conectado ao medidor para receber os sinais de espessura. Compreendendo adicionalmente um dispositivo de medição de posição ligado ao meio de interpretação, tal dispositivo de medição de posição gerando um sinal de posição do medidor para o meio de interpretação, indicando uma posição transversal do medidor com relação à tira, no qual o dispositivo de medição da posição do medidor inclua um taquímetro de medição, e compreendendo adicionalmente, um dispositivo de medição de posição de tambor ligado ao meio de interpretação, tal dispositivo de posição de tambor gerando um sinal de posição de tambor para o meio de interpreção, indicando uma posição lingitudinal da tira com relação ao medidor. Compreendendo adicionalmente um moinho reversível que tenha uma bancada de moinho com um lado de entrada e um lado de saída, com o medidor sendo um primeiro medidor localizado no lado de entrada, e compreendendo adicionalmente um segundo medidor localizado no lado de saída e ligado ao meio de interpretação, para evitar um conjunto de sinais de espessura indicando o perfil da tira no lado de saída da bancada do moinho, sendo o segundo medidor móvel da mesma maneira que o primeiro medidor. Compreendendo, também, um método para produzir dados de perfil de uma tira de material com um único medidor, compreendendo: - A passagem de um comprimento da tira através do medidor, mantendo o medidor em uma posição estacionária, à medida que o comprimento da tira é passado através do medidor; - A medição da espessura da tira em vários pontos ao longo do comprimento da tira, ao longo de uma linha longitudinal da tira, à medição que a tira é passada pelo medidor; - A geração de um primeiro conjunto de sinais indicando a medição da espessura do comprimento da tira ao longo da linha longitudinal; - A passagem do comprimento da tira pelo medidor uma segunda vez, movendo-se o medidor transversalmente com relação à tira, à medida que a tira é passada pelo medidor; - A medição da espessura do comprimenro da tira em vários pontos da tira através de uma largura da mesma, à medida que o comprimento da tira é passado pelo medidor; - A geração de um segundo conjunto de sinais indicando as medições da espessura do comprimento da tira através da largura da mesma; - A geração de dados de perfil a partir do primeiro e do segundo conjuntos de sinais; - A medição de uma posição longitudinal da tira com relação ao medidor; - A medição de uma posição transversal do medidor com relação à tira; e - A geração de sinais de posição para um meio de geração de dados de perfil, a partir dos sinais de posição e dos primeiro e segundo conjunto de sinais. Método, no qual os passos para a medição da espessura incluam o sensoriamento sem contato da espessura da tira de material.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento - Art. 36 §1° da LPI

#11.2

13/02/2002

RPI 1623

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

24/10/2000

RPI 1555

Transferência deferida

#25.1

Transferido por fusão de: MX Acquisition Company

06/06/2000

RPI 1535

Republicação - titular

#25.11

@Referência RPI 1499 de 28/09/1999 Cod. 25.1 Item ( 71 ) Alterado de: Data Measurement Corporation

25/04/2000

RPI 1529

Alteração de nome deferida

#25.4

Alterado de: Data Measurement Corporation

28/09/1999

RPI 1499

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

27/08/1996

RPI 1343

Monitoramento de patentes

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