Arquivamento - Art. 33 da LPI
#11.1
08/03/2000
RPI 1522
Dados do pedido
Número
PI9405158Tipo
Depósito
Publicação
Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 20/12/1994, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 08/03/2000. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
I. C. (pessoa física)
US
Inventores
C. G. (pessoa física)
US
J. S. (pessoa física)
US
L. H. (pessoa física)
US
S. O. (pessoa física)
JP
Classificação IPC
Prioridades unionistas
US
173,396 · 23/12/1993
Resumo técnico
Forma-se uma estrutura de isolamento de sulco raso por um processo que apresenta um reduzido número de etapas e um reduzido orçamento térmico pelo enchimento de sulcos mediante deposição em fase líquida de um óxido isolante de semicondutor e pelo tratamento térmico do depósito para a formação de uma camada de óxido térmico de alta qualidade em uma interface entre o óxido depositado e o corpo de material semicondutor (por exemplo, o substrato) para dentro do qual se estende o sulco. Este processo produz uma estrutura de isolamento com tensão reduzida e reduzida tendência a desenvolver vazamento de cargas. A estrutura pode ser pronta e facilmente planarizada, particularmente se for aplicada uma camada de parada de polimento sobre o corpo de material semicondutor, sendo que lacunas e contaminação do óxido depositado são substancialmente eliminadas por deposição auto-alinhada acima do sulco no volume de orifícios em um revestimento fotoprotetor utilizado na formação do sulco.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#11.1
08/03/2000
RPI 1522
#3.1
01/08/1995
RPI 1287
#2.1
01/03/1995
RPI 1265
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