Dado oficial do INPI

APARELHO PARA MEDIÇÃO DE UM OU MAIS PARÂMETROS FÍSICOS

ArquivadaPatente de Invenção

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Dados do pedido

Número

PI9404747

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

25/11/1994

Publicação

18/07/1995

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Andamento no INPI

Depósito25/11/94
Publicação18/07/95
Arquivado
Deferimento
Concessão
Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 25/11/1994, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 08/03/2000. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Sensor Dynamics Limited

Inventores

M. F. (pessoa física)

Dados técnicos

Classificação IPC

G01N 21/63

Prioridades unionistas

9324333.5 · 26/11/1993

Resumo técnico

Aparelho para a medição de um ou mais parâmetros físicos, compreendendo meio de fonte (1) para proporcionar uma fonte de irradiação eletromagnética, meio de rede de detecção (5) que compreende uma pluralidade de meios de interferômetro de detecção (10) cada um dos quais inclui um meio de filtro de comprimento de onda para selecionar uma faixa de comprimentos de onda (11) de irradiação eletromagnética proporcionada pelo meio de fonte (1) e é adequado para converter a magnitude de um ou mais dos parâmetros físicos para uma mudança no retardamento de comprimento de trajetória ótica do sensor; um meio de interferômetro de referência (7) para selecionar um retardamento de trajetória ótica de referência, um meio de seleção de comprimento de onda (8) para selecionar um ou mais da faixa de comprimentos de onda (11) filtrados por um ou mais meios de interferômetro de detecção (10); e meio de detecção (9) para converter a irradiação eletromagnética selecionada pelo meio de seleção de comprimento de onda (8) em um sinal elétrico.