Arquivamento - Art. 36 §1° da LPI
#11.2
05/09/2000
RPI 1548
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Dado oficial do INPI
SISTEMA PARA ANÁLISE CONTÍNUA DE AMOSTRAS DE MATERIAL E PROCESSO PARA ESTABELECER TAL SISTEMA
ArquivadaPatente de InvençãoPCT · DK1993000165
Dados do pedido
Número
PI9306343Tipo
Patente de Invenção
Depósito
14/05/1993
Publicação
30/06/1998
PCT
DK1993000165 Andamento no INPI
- Depósito14/05/93
- Publicação30/06/98
- Arquivado
- Deferimento
- Concessão
- Em vigor
Pedido arquivado: a exigência técnica do INPI não foi cumprida no prazo (art. 36 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 05/09/2000. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
Jesma-Matador A/S
DK
Inventores
E. J. (pessoa física)
DK
J. H. (pessoa física)
DK
M. B. (pessoa física)
DK
Dados técnicos
Classificação IPC
Prioridades unionistas
DK
0644/92 · 14/05/1992
Resumo técnico
Patente de Invenção: SISTEMA PARA ANÁLISE CONTÍNUA DE AMOSTRAS DE MATERIAL E PROCESSO PARA ESTABELECER TAL SISTEMA. Para a realização automática em linha de análises NIR sucessivas de amostras de material, é conhecida a alimentação de amostras a uma câmara de teste tendo uma janela localizada adjacente à cabeça ótica de uma analisador NIR, esta janela sendo mantida limpa sendo coberta por uma película que é avançada totalmente antes do suprimento de cada amostra nova à câmara. De acordo com a invenção, é usada uma técnica simplificada na qual a janela é constituída pelo vidro dianteiro (68) de cabeça ótica, esta cabeça sendo montada em uma caixa (6) que é móvel além de uma unidade de limpeza simples (86,88). Com esta invenção, é possível adaptar um equipamento de laboratório existente (2,10) para a operação em linha.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Exigência - art. 36 da LPI
#6.1
30/11/1999
RPI 1508
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
30/06/1998
RPI 1436
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