Dado oficial do INPI

SISTEMA DE DETECÇÃO DE NÊUTRONS RÁPIDOS PARA MEDIÇÃO ACURADA DE PARÂMETROS DE MATERIAL SUBSTANCIALMENTE NÃO-HIDROGENADO CONTIDO EM UM VASO PROVIDO DE PAREDES E PROCESSO DE DETERMINAÇÃO DE CARACTERÍSTICAS DESTE MATERIAL

ArquivadaPatente de InvençãoPCT · US1992010597

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Dados do pedido

Número

PI9206877

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

08/12/1992

Publicação

28/11/1995

PCT

US1992010597

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Andamento no INPI

Depósito08/12/92
Publicação28/11/95
Arquivado
Deferimento
Concessão
Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 08/12/1992, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 19/12/1995. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Kay-Ray/Sensall, Inc.

Inventores

J. D. (pessoa física)

Dados técnicos

Classificação IPC

G01F 23/00 G01N 23/09 G01T 3/00

Prioridades unionistas

804.355 · 09/12/1991

Resumo técnico

Um sistema (14) de medição de processo utiliza retroespalhamento de nêutrons rápidos para medição de densidade, nível e interfaces de materiais substancialmente não-hidrogenados (18), isto é, materiais outros que não aqueles contendo hidrogênio. É acomodada a medição de materiais (18) em vasos (12) providos de paredes espessas. O sistema contém uma fonte (16) de nêutrons rápidos para emitir nêutrons para dentro do materal (18) a ser medido. Um sistema de detecção (26) acha-se montado próximo à fonte de nêutrons (16) para receber os nêutrons retroespalhados. Uma blindagem de degradação de energia (22) reduz o nível de energia dos nêutrons rápidos até uma faixa desejada para detecção.