Arquivamento por falta de pagamento
#8.6
Referente a 5ª, 6ª, 7ª e 8ª anuidade
16/05/2000
RPI 1532
Dados do pedido
Número
PI9201840Tipo
Depósito
Publicação
Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 16/05/2000. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
I. C. (pessoa física)
US
Inventores
H. M. (pessoa física)
US
T. F. (pessoa física)
JP
Classificação IPC
Prioridades unionistas
US
701.925 · 17/05/1991
Resumo técnico
Expõe-se um novo método adequado para a fabricação de ordenações altamente integradas de fios quânticos, ordenações de pontos quânticos em um semicondutor composto monocristalino e FETs de comprimento de porta menor do que 0,1 micron. Isto possibilita construir um dispositivo eletrônico de alto desempenho com elevada velocidade e baixo consumo de energia, usando uma combinação de epitaxia de feixe molecular de crescimento a baixa temperatura (LTG-MBE) e implantação por feixe iônico focalizado (FIB), As camadas epitaxiais de semicondutor composto (GaAs), que são produzidas por LTG-MBE, são usadas como alvos de implantação de Ga por FIB, para produzir ordenações de fios ou de pontos de Ga. A precipitação de microcristais de argênio, que são inicialmente embutidos em uma camada monocristalina de GaAs e agem como barreiras de Schottky, são geralmente observadas em uma camada de GaAs por LTG. Um processo de recozimento térmico, após a implantação, transforma os microcristais de argênio em cristais de GaAs, se os microcristais de argênio estiveram na região na qual são implantados os íons de Ga. Uma forma semelhante a fio, isenta de microcristais de As então age como um fio quântico para elétrons ou lacunas, enquanto que uma forma semelhante a ponto, livre de microcristais de As age como ponto quântico. A co-existência de íons de Ga e de íons de impregnante, que proporcionam portadores de tipo de condutividade oposto ao tipo de condutividade dos portadores majoritários de uma região de canal de um FET, proporciona a fabricação de uma região de porta de junção muito estreita para qualquer FET.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#8.6
Referente a 5ª, 6ª, 7ª e 8ª anuidade
16/05/2000
RPI 1532
Referente a 5ª e 6ª anuidade.
29/12/1998
RPI 1460
#4.1
07/03/1995
RPI 1266
#3.1
05/01/1993
RPI 1153
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