Arquivamento - Art. 33 da LPI
#11.1
26/09/1995
RPI 1295
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Dado oficial do INPI
PROCESSO PARA CALIBRAR UM SISTEMA DE INSPEÇÃO DE ESPESSURA DE PAREDE
ArquivadaPatente de Invenção
Dados do pedido
Número
PI9200849Tipo
Patente de Invenção
Depósito
12/03/1992
Publicação
17/11/1992
Andamento no INPI
- Depósito12/03/92
- Publicação17/11/92
- Arquivado
- Deferimento
- Concessão
- Em vigor
Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 12/03/1992, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 26/09/1995. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
Emhart Glass Machinery Investments Inc
US
Inventores
R. B. (pessoa física)
US
Dados técnicos
Classificação IPC
Prioridades unionistas
US
675.099 · 19/03/1991
Resumo técnico
um computador sente uma voltagem a qual é representativa da espessura de parede e define com o uso de uma curva de voltagem/espessura a espessura daquela porção de parede. Para definir esta curva, uma pluralidade de pontos de voltagem/espessura são introduzidos no computador. Cada ponto é definido pela ação de sentir e definir a voltagem de uma porção de parede em um padrão de calibragem tendo uma espessura conhecida e definindo uma espessura de calibragem correspondendo àquela voltagem usando a seguinte equação: (Diâmetro Padrão de Calibragem em milímetros - Diâmetro do Recipiente em milímetros) x 0,0079) + 1 x Espessura Padrão de Calibragem em milímetros, e equacionar essas espessuras de calibragem para as voltagens correspondentes produzidas pelo meio sensor ao sentir pelo menos as duas espessuras do padrão.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Publicação do pedido de patente
#3.1
17/11/1992
RPI 1146
Pedido de patente depositado
#2.1
11/08/1992
RPI 1132
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