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Dado oficial do INPI

PROCESSO E DISPOSITIVO PARA REALIZAR UMA COMPARAÇÃO ÓPTICA ENTRE PELO MENOS DUAS AMOSTRAS

ConcedidaPatente de InvençãoPCT · EP2010002642 Documento oficial disponível

Dados do pedido

Número

PI1014354

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

29/04/2010

Publicação

05/04/2016

PCT

EP2010002642

Carta-patente disponível

Temos o documento oficial completo deste processo, publicado pelo INPI.

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Andamento no INPI

  1. Depósito29/04/10
  2. Publicação05/04/16
  3. Exame
  4. Deferimento17/09/19
  5. Concessão12/11/19
  6. Em vigor29/04/30

Patente concedida em 12/11/2019 e em vigor até 29/04/2030. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:29/04/2030

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Última movimentação publicada pelo INPI: 12/11/2019. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

SCHATTDECOR AG

DE

Inventores

J. J. (pessoa física)

DE

K. H. (pessoa física)

DE

M. K. (pessoa física)

DE

Dados técnicos

Prioridades unionistas

DE

10 2009 019 545.9 · 30/04/2009

Resumo técnico

PROCESSO E DISPOSITIVO PARA REALIZAR UMA COMPARAÃÃO ÃPTICA ENTRE AO MENOS DUAS AMOSTRAS, PREFERENCIALMENTE PELA COMPARAÃÃO DE RECORTES SELECIONÃVEIS, BEM COMO EMPREGO DE UM DISPOSITIVO PARA REALIZAR O PROCESSO.A presente invenção refere-se a um processo aperfeiçoamento bem como a um dispositivo aperfeiçoado para realização de uma comparação óptica entre pelo menos duas amostas, preferencialmente pela comparação de recortes selecionáveis, os quais são caracterizados pelos seguintes pontos marcantes:- a amostra (UR, LE, I) a ser examinada e que é caracterizada por uma desigualdade estrutural e/ou na cor, será iluminada por meio de luz difusa,- a partir da luz refletiva da amostra a ser examinada (UR, LE, I), um espectro de interferência é gerado através de um espectrômetro (23),- o espectro de interferência gerado pelo espectrômetro (23) é representado em uma câmara (25, 25'),- o espectro de interferência assim obtido e/ou valores daí derivados da amostra (I) a ser examinada servem como valores de amostra que serão comparados com valores de amostra correspondentes que foram obtidos de uma amostra de referência (UR, LE).

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Concessão da patente

#16.1

20 (vinte) anos contados a partir de 29/04/2010, observadas as condições legais

12/11/2019

RPI 2549

Deferimento

#9.1

17/09/2019

RPI 2541

6.20

04/06/2019

RPI 2526

Notificação de acesso ao patrimônio genético

#6.6.1

15/01/2019

RPI 2506

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

05/04/2016

RPI 2361

Alteração de dados cadastrais

#1.1

05/12/2012

RPI 2187

Monitoramento de patentes

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