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Dado oficial do INPI

CÉLULA FOTOVOLTAICA DE SILÍCIO CRISTALINO COM EMISSOR SELETIVO PRODUZIDA COM PROCESSO DE RETROATAQUE DE PRECISÃO EM BAIXA TEMPERATURA E DE PASSIVAÇÃO

Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · CA2008001391

Dados do pedido

Número

PI0822954

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

28/07/2008

Publicação

23/06/2015

PCT

CA2008001391

Andamento no INPI

  1. Depósito28/07/08
  2. Publicação23/06/15
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 05/04/2016. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Day4 Energy Inc.

CA

Inventores

A. O. (pessoa física)

CA

B. S. (pessoa física)

CA

L. R. (pessoa física)

CA

Dados técnicos

Classificação IPC

Resumo técnico

CÃLULA FOTOVOLTAICA DE SILÃCIO CRISTALINO COM EMISSOR SELETIVO PRODUZIDA COM PROCESSO DE RETROATAQUE DE PRECISÃO EM BAIXA TEMPERATURA E DE PASSIVAÃÃO. A presente invenção refere-se a um processo de formar um emissor seletivo em uma placa semicondutora de silício cristalino fotovoltaica (PV) que envolve a formação de uma máscara sobre a superfície de um lado frontal da placa para criar áreas mascaradas e não mascaradas sobre a superfície do lado frontal. Uma primeira camada de óxido de silício é eletroquimicamente formada nas áreas não mascaradas da superfície do lado frontal, de tal modo que a camada de óxido de silício se estenda para o interior de um emissor da placa pelo menos até uma zona morta no seu interior. A máscara é removida e a primeira camada de óxido de silício é retroatacada até substancialmente a totalidade da primeira camada de óxido de silício ser removida. Uma segunda camada de óxido de silício é então eletroquimicamente formada sobre a superfície do lado frontal, de tal maneira que a segunda camada de óxido de silício tenha espessura suficiente para passivar a superfície do lado frontal. O processo pode alternativamente envolver a formação de um emissor pela difusão de um dopante através de uma primeira camada de óxido de silício eletroquimicamente formada nas áreas não mascaradas de uma placa semicondutora de silício cristalino PV desprovida de junção semicondutora e a seguir retroatacar a primeira camada de óxido de silício e passivar com uma segunda camada de óxido de silício eletroquimicamente formada.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Em virtude do arquivamento publicado na RPI 2343 de 01-12-2015 e considerando ausência de manifestação dentro dos prazos legais, informo que cabe ser mantido o arquivamento do pedido de patente, conforme o disposto no artigo 12, da resolução 113/2013.

05/04/2016

RPI 2361

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente às 5ª, 6ª e 7ª anuidades.

01/12/2015

RPI 2343

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

23/06/2015

RPI 2320

Alteração de dados cadastrais

#1.1

23/08/2011

RPI 2120

Monitoramento de patentes

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