Concessão da patente
#16.1
10 (dez) anos contados a partir de 20/08/2019, observadas as condições legais
20/08/2019
RPI 2537
Dados do pedido
Número
PI0819124Tipo
Depósito
Publicação
PCT
EP2008064683 Patente concedida em 20/08/2019 e em vigor até 29/10/2028. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.
Proteção válida até:29/10/2028
Última movimentação publicada pelo INPI: 20/08/2019. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
S. T. (pessoa física)
FR
Inventores
F. B. (pessoa física)
FR
Classificação IPC
Prioridades unionistas
FR
0758664 · 29/10/2007
US
61/006441 · 14/01/2008
Resumo técnico
DISPOSITIVO PARA A OBSERVAÃÃO, POR REFLEXÃO, DE DETALHES ESTRUTURAIS MILIMÃTRICOS OU SUBMILIMÃTRICOS DE UM OBJETO.Um dispositivo para observação, por reflexão, dos detalhes estruturais de um objeto (2) que exibe um comportamento que é pelo menos parcialmente especular, posicionado em uma área de exposição, que inclui: pelo menos uma fonte de radiação com uma superfÃcie de emissão (6) que possui pelo menos duas zonas distintas (26, 27) que emitem correntes de radiação, onde pelo menos uma das caracterÃsticas difere de uma zona para a próxima; um sistema de projeção óptica que é posicionado em linha com a fonte de radiação em relação à zona de exposição, no trajeto da radiação; um sistema de exposição óptico (18) projetado para ligar opticamente a abertura de entrada (14) do sistema de projeção Ãptica e a superfÃcie de emissão (6); 15 uma superfÃcie de projeção (1O) que é opticamente ligada com o objeto na zona de exposição, e cuja radiação recebida depende da deflexão sobre o objeto (2).
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#16.1
10 (dez) anos contados a partir de 20/08/2019, observadas as condições legais
20/08/2019
RPI 2537
#9.1
18/06/2019
RPI 2528
#7.1
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RPI 2489
#1.3
02/05/2017
RPI 2417
#1.1
23/08/2011
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