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Dado oficial do INPI

DISPOSITIVO DE MEDIÇÃO PARA MEDIR UM FEIXE LASER CONCENTRADO

ExtintaPatente de InvençãoPCT · EP2008007575 Documento oficial disponível

Dados do pedido

Número

PI0815425

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

12/09/2008

Publicação

09/08/2016

PCT

EP2008007575

Carta-patente disponível

Temos o documento oficial completo deste processo, publicado pelo INPI.

Acessar documento

Andamento no INPI

  1. Depósito12/09/08
  2. Publicação09/08/16
  3. Exame
  4. Deferimento19/03/19
  5. Concessão09/04/19
  6. Extinto30/11/21

Patente concedida em 09/04/2019 e depois extinta em 30/11/2021. A proteção terminou antes do prazo e a tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 30/11/2021. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

ALCON INC.

CH

WAVELIGHT AG

DE

WAVELIGHT GMBH

DE

Ver toda a carteira desta empresa

Inventores

K. O. (pessoa física)

DE

Z. B. (pessoa física)

DE

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

EP

07017968.4 · 13/09/2007

Resumo técnico

DISPOSITIVO DE MEDIÃÃO PARA MEDIR UM FEIXE LASER CONCENTRADO. De acordo com uma realização, o dispositivo de medição para medir um feixe laser compreende um sistema de lentes de magnificação com um total de duas lentes (10, 12) que são dispostas em série no caminho do feixe laser e cujos focos são coincidentes, assim como a câmera (74) que está disposta entre as duas lentes (10, 12) no foco da última lente (12) e inclui um sensor eletrônico de imagem (14), que gera uma imagem eletrônica do feixe laser magnificado. As lentes (10, 12), juntamente com a câmera (74), são ajustáveis ao longo do caminho do feixe em relação a um ponto de referência (46) dispositivo de medição, com a finalidade de localizar a cintura do feixe do feixe laser e de determinar o perfil do diâmetro do feixe laser. Dispositivo de medição também inclui um adaptador (42), que integra o caminho do feixe para acoplamento dispositivo de medição a um sistema laser que fornece o feixe laser. O adaptador (42) forma uma superfície de suporte (46) para o sistema laser, que está direcionada axialmente em relação a um eixo do feixe (16) do feixe laser e permite dispositivo de medição ser acoplado in situ no local de instalação do sistema laser.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Manutenção da Extinção - Art. 78 inciso IV da LPI

#24.10

Em virtude da extinção publicada na RPI 2640 de 10-08-2021 e considerando ausência de manifestação dentro dos prazos legais, informo que cabe ser mantida a extinção da patente e seus certificados, conforme o disposto no artigo 12, da resolução 113/2013.

30/11/2021

RPI 2656

Extinção para fins de restauração (art. 87)

#21.6

Referente à 13ª anuidade.

10/08/2021

RPI 2640

Transferência deferida

#25.1

07/04/2020

RPI 2570

Alteração de nome deferida

#25.4

17/03/2020

RPI 2567

Concessão da patente

#16.1

10 (dez) anos contados a partir de 09/04/2019, observadas as condições legais

09/04/2019

RPI 2518

Deferimento

#9.1

19/03/2019

RPI 2515

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

02/01/2019

RPI 2504

6.20

31/07/2018

RPI 2482

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

09/08/2016

RPI 2379

Alteração de dados cadastrais

#1.1

23/08/2011

RPI 2120

Monitoramento de patentes

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