Indeferimento mantido em recurso
#9.2.4
MANTIDO O INDEFERIMENTO UMA VEZ QUE NÃO FOI APRESENTADO RECURSO DENTRO DO PRAZO LEGAL
14/05/2019
RPI 2523
Voltar para busca
Dado oficial do INPI
MÉTODO PARA ESTIMAR O VALOR DE UM ATRIBUTO EM UM PONTO PRINCIPAL, MEIO LEGÍVEL POR COMPUTADOR, E, DISPOSITIVO DE COMPUTAÇÃO
IndeferidaPatente de InvençãoPCT · US2008067716
Dados do pedido
Número
PI0813117Tipo
Patente de Invenção
Depósito
20/06/2008
Publicação
23/12/2014
PCT
US2008067716 Andamento no INPI
- Depósito20/06/08
- Publicação23/12/14
- Exame
- Indeferido14/05/19
- Concessão
- Em vigor
Pedido indeferido em 14/05/2019 e o recurso não mudou a decisão. A invenção não chegou a patente e a tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 14/05/2019. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes e inventores
Depositantes
Weyerhaeuser Company
US
Inventores
J. W. (pessoa física)
US
Dados técnicos
Classificação IPC
Prioridades unionistas
US
11/767039 · 22/06/2007
Resumo técnico
MÃTODO PARA ESTIMAR O VALOR DE UM ATRIBUTO EM UM PONTO PRINCIPAL, MEIO LEGÃVEL POR COMPUTADOR, E, DISPOSITIVO DE COMPUTAÃÃO.Aspectos de presente invenção são direcionados para estimar o valor de um atributo em uma localização geográfica especÃfica. Em um modo de realização, é provido um método que estima a elevação em um ponto principal usando dados de LiDAR que foram coletados a partir de pontos secundários espacialmente relacionados. Mais especificamente, o método inclui identificar pontos secundários onde foram obtidos dados de atributo de amostra que estão dentro de uma distância predeterminada até o ponto principal onde o atributo está sendo estimado. Pode ser selecionada e alocada uma zona de mascaramento a um ponto secundário e pode ser feita uma determinação dizendo respeito a se um ou mais pontos secundários mais distantes estão dentro da área da zona de mascaramento. Nesse aspecto, pode ser atribuÃda manos relevância aos pontos secundários mais distantes que estão dentro da zona de mascaramento ao estimar o valor do atributo.
Histórico de despachos
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
Indeferimento
#9.2
26/02/2019
RPI 2512
Conhecimento de parecer técnico
#7.1
17/07/2018
RPI 2480
Notificação de entrada na fase nacional - PCT
#1.3
23/12/2014
RPI 2294
Alteração de dados cadastrais
#1.1
23/08/2011
RPI 2120
Relacionados
Do mesmo titular
MÉTODO PARA AUMENTAR O VIGOR DE GERMINAÇÃO DE EMBRIÕES SOMÁTICOS DE CONÍFERA, E, MÉTODO PARA PRODUZIR EMBRIÕES SOMÁTICOS DE CONÍFERA.MÉTODO PARA PROCESSAR DADOS DE LIDAR PARA ALOCAR PONTOS A ITENS INDIVIDUAIS DE VEGETAÇÃO, E, SISTEMA PARA PROCESSAR DADOS DE LIDAR PARA IDENTIFICAR A LOCALIZAÇÃO DE ITENS INDIVIDUAIS DE VEGETAÇÃO.MÉTODO E SISTEMA PARA PROCESSAR DADOS LIDAR PARA IDENTIFICAR A LOCALIZAÇÃO DE ITENS INDIVIDUAIS DE VEGETAÇÃO, E, DISPOSITIVO DE COMPUTAÇÃOPAPELÃO COM PROPRIEDADES DE BARREIRA PARA GÁSMÉTODO PARA ADMINISTRAR ÁREA FLORESTAL DE MADEIRA DE CONSTRUÇÃOMÉTODO PARA ADMINISTRAR ÁREA FLORESTAL DE MADEIRA DE CONSTRUÇÃOPEÇA EM BRUTO PARA FORMAR UM RECIPIENTE, MÉTODO PARA FORMAR UM RECIPIENTE A PARTIR DA PEÇA EM BRUTO DE PAPELÃO, E , RECIPIENTE
Da mesma categoria
PP1101194PEPTÍDEO PARA DIAGNOSTICAR E IMUNIZAR CONTRA INFECÇÃO POR T.CRUZI ENSAIO DE DIAGNÓSTICO ELISA PARA DETECTAR ANTICORPOS ESPECÍFICOS DA INFECÇÃO POR T.CRUZI NO SANGUE MÉTODO DE DETECÇÃO DA DOENÇA DE CHARGAS OU INFECÇÃO POR T.CRUZI, E VACINA PARA IMUNIZAR UM INDÍVIDUO CONTRA A DOENÇA DE CHAGASMEIOS PARA A DOSAGEM QUANTITATIVA DE RETROVIRUS, PROCESSO PARA SUA PREPARAÇÃO E KIT DE DIAGNÓSTICO COMPORTANDO O DITO MEIOMÉTODO PARA A DETECÇÃO DE ANTICORPOS PARA UM ANTÍGENO 230 Kd PRESENTE NA LEISHMANIA CHAGASI E LEISHMANIA DONOVANI; KIT; DNA ISOLADO; ANTÍGENO 230 Kd ISOLADO; E COMPOSIÇÃO DE VACINACOMPOSIÇÃO DE ANTÍGENOCOMPOSIÇÃO PARA INTRODUZIR COMPLEXOS DE ÁCIDO NUCLÉICO EM CÉLULAS EUCARIÓTICAS SUPERIORESNOVAS PROTEINAS DE SALIVA DE ECTOPARASITAS E APARELHO PARA COLHER ESSAS PROTEINASTRATAMENTO DE SOLUÇÕES DE CÉLULAS VERMELHAS DO SANGUE COM AGENTES ANTI-VIRÓTICOS
Monitoramento de patentes
Acompanhe esta patente em tempo real.
Receba alertas de despachos, decisões e vencimentos do INPI para o seu portfólio.