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Dado oficial do INPI

MÉTODOS E APARELHO PARA ANALISAR MOSTRAS E COLHER FRAÇÕES DE AMOSTRA

ArquivadaPatente de InvençãoPCT · US2008013359

Dados do pedido

Número

PI0811525

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

04/12/2008

Publicação

18/11/2014

PCT

US2008013359

Andamento no INPI

  1. Depósito04/12/08
  2. Publicação18/11/14
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 04/12/2008, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 01/09/2015. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Alltech Associates, INC.

US

Inventores

B. B. (pessoa física)

US

C. P. (pessoa física)

US

D. C. (pessoa física)

US

D. H. (pessoa física)

US

J. J. (pessoa física)

US

J. B. (pessoa física)

US

N. P. (pessoa física)

US

R. S. (pessoa física)

US

S. N. (pessoa física)

US

W. M. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

61/005.590 · 05/12/2007

Resumo técnico

MÃTODOS E APARELHO PARA ANALISAR AMOSTRAS E COLHER FRAÃÃES DE AMOSTRA. Métodos e aparelho para analisar uma amostra usando pelo menos um detector são revelados.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

01/09/2015

RPI 2330

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

02/06/2015

RPI 2317

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

18/11/2014

RPI 2289

Alteração de dados cadastrais

#1.1

30/08/2011

RPI 2121

Monitoramento de patentes

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