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Dado oficial do INPI

SISTEMA MEDIDOR PROJETADO PARA PROCESSAR SENSORES DE TESTE INDIVIDUALIZADOS

ArquivadaPatente de InvençãoPCT · US2007017691

Dados do pedido

Número

PI0715925

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

09/08/2007

Publicação

06/08/2013

PCT

US2007017691

Andamento no INPI

  1. Depósito09/08/07
  2. Publicação06/08/13
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 09/08/2007, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 29/04/2014. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Bayer Healthcare LLC

US

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Inventores

R. S. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

60/837.518 · 14/08/2006

Resumo técnico

SITEMA MEDIDOR PROJETADO PAARA PROCESSAR SENSORES DE TESTE INDIVIDUALIZADOS. Um sistema de teste compreende um recipiente de sensor e um dispositivo de teste. O recepiente de sensor tem uma base e uma tampa. O recipiente encerra uma pluralidade de sensores de teste no mesmo. O recipiente inclui uma etiqueta de calibração fixada a ele. A etiquera inclui contatos elétricos localizados na mesma que codificam informação de calibração na etiqueta de calibração. O dispositivo de teste tem uma abertura para recipiente de sensor formada no mesmo. O recurso de autocalibração é externo ao dispositivo de teste. Orecurso de autocalibração inclui elementos de calibração para se comunicar com os contatos elétricos na etiqueta de calibração. O dispositivo de teste determina a informação de calibração codificada na etiqueta de calibração em resposta aos elementos de calibração encaixando os contatos elétricos. Uma parte do recipiente de sensor permanece externa ao medidor enquanto a informação de calibração codificada está sendo determinada.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

29/04/2014

RPI 2260

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

31/12/2013

RPI 2243

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

06/08/2013

RPI 2222

Alteração de dados cadastrais

#1.1

09/08/2011

RPI 2118

Monitoramento de patentes

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