Arquivamento definitivo por descumprimento
#8.11
Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2161 de 05/06/2012.
26/02/2013
RPI 2199
Dados do pedido
Número
PI0704754Tipo
Depósito
Publicação
Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 26/02/2013. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
E. G. (pessoa física)
SC, BR
Inventores
E. G. (pessoa física)
BR
Classificação IPC
Resumo técnico
PROCESSO E DISPOSITIVO PARA MEDIR CONTINUAMENTE A ESSPESSURA DE FILMES PLÁSTICOS EXTRUSADOS. A presente invenção refere-se a um processo e equipamento para medição da espessura de filmes plásticos, de maneira contínua e sem contato, com o uso de um sensor capacitivo. Essa medição pode ser feita de 3 maneiras; com o uso de um anteparo metálico fixo (3), cuja distância até o sensor capacitivo é fixa; outra maneira, é com o uso de um anteparo metálico não-uniforme (6) cuja distância até o sensor capacitivo n~o é fixa ao longo da largura do filme, sendo essa distância medida constantemente por um sensor eddy-current (7). Esta distância medida serve para re-calibraç~o constante da fórmula que relaciona a capacitáncia medida com a espessura do filme. A terceira modalidade de medição é com o uso somente de um sensor capacitivo (8), encostado ou quase encostado ao filme sem o uso de nenhum anteparo metálico.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#8.11
Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2161 de 05/06/2012.
26/02/2013
RPI 2199
#8.6
Referente às 3ª e 4ª anuidades.
05/06/2012
RPI 2161
#3.1
21/07/2009
RPI 2011
#2.1
29/01/2008
RPI 1934
Do mesmo titular
Da mesma categoria
Monitoramento de patentes
Receba alertas de despachos, decisões e vencimentos do INPI para o seu portfólio.