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Dado oficial do INPI

MÉTODO DE MEDIÇÃO DA QUALIDADE DE UMA SUPERFÍCIE DE UM SUBSTRATO, APARELHO DE OBTENÇÃO DE IMAGENS

ArquivadaPatente de InvençãoPCT · IB2006004311

Dados do pedido

Número

PI0621434

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

17/11/2006

Publicação

24/01/2012

PCT

IB2006004311

Andamento no INPI

  1. Depósito17/11/06
  2. Publicação24/01/12
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 17/11/2006, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 31/07/2012. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Verity IA, LLC

US

Inventores

R. R. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

60/743,615 · 21/03/2006

Resumo técnico

MÉTODO DE MEDIÇÃO DA QUALIDADE DE UMA SUPERFÍCIE DE UM SUBSTRATO, APARELHO DE OBTENÇÃO DE IMAGENS. Descreve-se um método de medição da qualidade de uma superfície de um substrato. O método inclui as etapas da obtenção de uma imagem digital de uma porção de uma superfície de substrato usando um aparelho de obtenção de imagens e medir uma ou mais características físicas da imagem digital obtida de modo a proporcionar uma indicação da qualidade da superfície do substrato.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

31/07/2012

RPI 2169

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

03/04/2012

RPI 2152

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

24/01/2012

RPI 2142

Alteração de dados cadastrais

#1.1

16/08/2011

RPI 2119

Monitoramento de patentes

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