Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI
#11.1.1
31/07/2012
RPI 2169
Dados do pedido
Número
PI0621434Tipo
Depósito
Publicação
PCT
IB2006004311 Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 17/11/2006, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 31/07/2012. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
Verity IA, LLC
US
Inventores
R. R. (pessoa física)
US
Classificação IPC
Prioridades unionistas
US
60/743,615 · 21/03/2006
Resumo técnico
MÉTODO DE MEDIÇÃO DA QUALIDADE DE UMA SUPERFÍCIE DE UM SUBSTRATO, APARELHO DE OBTENÇÃO DE IMAGENS. Descreve-se um método de medição da qualidade de uma superfície de um substrato. O método inclui as etapas da obtenção de uma imagem digital de uma porção de uma superfície de substrato usando um aparelho de obtenção de imagens e medir uma ou mais características físicas da imagem digital obtida de modo a proporcionar uma indicação da qualidade da superfície do substrato.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#11.1.1
31/07/2012
RPI 2169
#11.1
03/04/2012
RPI 2152
#1.3
24/01/2012
RPI 2142
#1.1
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