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Dado oficial do INPI

APARELHO PARA ANÁLISE DE ESPECTRO ELETROMAGNÉTICO OU ÓTICA, ESPECIFICAMENTE ANÁLISE FOTOMÉTRICA, ESPECTROFOTOMÉTRICA OU DE IMAGEM

Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · EP2006004496

Dados do pedido

Número

PI0613864

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

12/05/2006

Publicação

15/02/2011

PCT

EP2006004496

Andamento no INPI

  1. Depósito12/05/06
  2. Publicação15/02/11
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 21/11/2012. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

AEROMATIC-FIELDER AG

CH

J & M Analytik AG

DE

J & M ANALYTISCHE MESS- UND REGELTECHNIK GMBH

DE

Inventores

J. M. (pessoa física)

DE

T. P. (pessoa física)

GB

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

DE

20 2005 011 177.5 · 15/07/2005

Resumo técnico

APARELHO PARA ANÁLISE DE ESPECTRO ELETROMAGNÉTICO OU ÓTICA, ESPECIFICAMENTE ANÁLISE FOTOMÉTRICA, ESPECTROFOTOMÉTRICA OU DE IMAGEM. A presente invenção refere-se a um aparelho para a análise de espectro eletromagnético ou ótica de um material a ser analisado que está localizado dentro de um espaço de produto, tal como um recipiente ou tubo, especificamente para a análise fotométrica, espectrofotométrica ou de imagem de pó, de material bruto, grânulos e similares, o qual está provido com uma sonda de medição a qual está disposta dentro de um alojamento e está provida com pelo menos um elemento de medição de radiação ou de luz, uma janela de medição, a qual está disposta no percurso dos raios em uma parede do alojamento, e com pelo menos um elemento de detecção para a análise. A sonda de medição é formada e guiada deslocável na direção axial de tal modo que pelo menos parte do alojamento no qual a janela de medição está localizada entra através de uma abertura no espaço de produto no qual o material a ser analisado está localizado, para a análise. A pelo menos uma janela de medição está disposta em pelo menos uma sub-região da parede circunferencial do alojamento. Uma tampa de vedação está localizada entre uma face de extremidade dianteira do alojamento e a janela de medição disposta na parede circunferencial, cuja tampa de vedação está pelo menos parcialmente ainda na região da abertura (5) no espaço de produto (3), e conseqúentemente cobre a abertura (5), em uma posição recuada da sonda de medição na qual a janela de medição está fora do espaço de produto.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Não apresentada a guia de cumprimento de exigência. Referente à 6ª anuidade.

21/11/2012

RPI 2185

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 6ª anuidade.

19/06/2012

RPI 2163

Alteração de nome deferida

#25.4

Alterado de: J & M Analytische Mess- und Regeltechnik GmbH

29/03/2011

RPI 2099

Alteração de sede deferida

#25.7

Endereço alterado conforme solicitado na Petição nº 020100023953/RJ de 18/03/2010.

29/03/2011

RPI 2099

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

15/02/2011

RPI 2093

Monitoramento de patentes

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