Sistema para processar dispositivos de processamento de amostra e Método de processamento de material de amostra

Classificação IPC

Prioridades unionistas

Resumo técnico

SISTEMAS PARA PROCESSAR DISPOSITIVOS DE PROCESSAMENTO DE AMOSTRA E MÉTODO DE PROCESSAMENTO DE MATERIAL DE AMOSTRA Trata-se de sistemas de processamento de amostra e métodos deuso desses sistemas para processar materiais de amostra localizados nos dispositivos de processamento de amostra. Os sistemas de processamento da amostra incluem uma placa de base rotativa na qual os dispositivos de processamento da amostra são localizados durante a operação dos sistemas. Os sistemas também incluem uma cobertura e uma estrutura de compressão projetada para forçar um dispositivo de processamento da amostra para a placa de base. O resultado preferencial é que o dispositivo de processamento da amostra é forçado para entrar contato com uma estrutura térmica na placa de base. Os sistemas e métodos da presente invenção podem incluir um ou mais dos aspectos a seguir para melhorar o acoplamento térmico entre a estrutura térmica e o dispositivo de processamento da amostra: uma superfície de transferência de formato específico, uma estrutura de compressão magnética e uma estrutura térmica flutuante ou montada de forma resiliente. Os métodos podem envolver, de preferência, a deformação de uma porção de um dispositivo de processamento de amostra para se adaptar a uma superfície de transferência de formato específico.