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Dado oficial do INPI

SISTEMA E MÉTODO PARA MEDIR CONFORMIDADE DE EXPOSITOR

ArquivadaPatente de InvençãoPCT · US2006013703

Dados do pedido

Número

PI0610589

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

12/04/2006

Publicação

06/07/2010

PCT

US2006013703

Andamento no INPI

  1. Depósito12/04/06
  2. Publicação06/07/10
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado: o exame técnico não foi requerido nos 36 meses seguintes ao depósito de 12/04/2006, prazo do art. 33 da LPI. A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 01/11/2011. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

STORE EYES, INC

US

Inventores

A. R. (pessoa física)

US

C. H. (pessoa física)

US

W. S. (pessoa física)

US

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

US

60/670,802 · 13/04/2005

Resumo técnico

São descritos métodos e sistemas para medir conformidade de expositor de loja a varejo. Uma ou mais imagens de uma ou mais condições de loja a varejo são capturadas e associadas com informação relacionada. A uma ou mais imagens capturadas e a informação relacionada são transmitidas para um local de processamento para armazenamento e processamento. A uma ou mais imagens capturadas e a informação relacionada são recebidas no local de processamento, armazenadas em um repositório e processadas. A uma ou mais condições de loja a varejo na uma ou mais imagens capturadas são comparadas com uma biblioteca para identificá-las e obter informação de identificação. A uma ou mais imagens capturadas identificadas e informação de identificação para a uma ou mais condições de loja a varejo são armazenadas no repositório. A uma ou mais condições de loja a varejo na uma ou mais imagens capturadas e informação de identificação são analisadas e um ou mais relatórios de sumário ou um ou mais alertas são gerados com base na análise.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo - Art. 33 da LPI

#11.1.1

01/11/2011

RPI 2130

Arquivamento - Art. 33 da LPI

#11.1

26/07/2011

RPI 2116

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

06/07/2010

RPI 2061

Monitoramento de patentes

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