DISPOSITIVO E MÉTODO PARA A CARACTERIZAÇÃO DE FEIXES DE LASER DE BAIXA E ALTA POTÊNCIA BASEADO NO ESPALHAMENTO DE LUZ

Classificação IPC

Resumo técnico

DISPOSITIVO E MÉTODO PARA A CARACTERIZAÇÃO DE FEIXES DE LASER DE BAIXA E ALTA POTÊNCIA BASEADO EM ESPALHAMENTO DE LUZ A presente invenção refere-se a uru dispositivo e método para a caracterização de feixes de laser de alta e baixa potência baseado em espalhamento de luz, que permite medir a qualidade do feixe de laser com urna única imagem da luz espalhada da propagação do feixe de laser. Mais especificamente, a presente invenção revela uma nova maneira de medir os parâmetros espaciais de feixes de laser em tempo real, e que também pode ser utilizado para caracterizar um único pulso de um feixe de laser. Com os dados fornecidos, em tempo real, por este dispositivo e com o método de caracterização do feixe de laser tornam-se mais eficientes as aplicaç6es a laser, pois permite conhecer a qualidade do feixe no instante da utilização do laser.