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Dado oficial do INPI

ARRANJO DECTOR PARA DETECTAR UM PADRÃO DE RADIAÇÃO GERADO POR REFLEXÃO DE UM FEIXE PRINCIPAL E UMA PLURALIDADE DE FEIXES LATERAIS EM UM PORTADOR DE REGISTRO DE CAMADA MÚLTIPLA, E, DISPOSITIVOS DE CAPTURA PARA UM PORTADOR DE REGISTRO DE CAMADA MÚLTIPLA E DE ACIONAMENTO PARA FORNECER ACESSO A UM PORTADOR DE REGISTRO DE CAMADA MÚLTIPLA

Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · IB2005054209

Dados do pedido

Número

PI0519601

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

13/12/2005

Publicação

25/02/2009

PCT

IB2005054209

Andamento no INPI

  1. Depósito13/12/05
  2. Publicação25/02/09
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 06/08/2013. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Koninklijke Philips Electronics N.V.

NL

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Inventores

H. M. (pessoa física)

NL

J. S. (pessoa física)

NL

P. W. (pessoa física)

NL

S. S. (pessoa física)

NL

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

EP

04106744.8 · 20/12/2004

Resumo técnico

ARRANJO DETECTOR PARA DETECTAR UM PADRÃO DE RADIAÇÃO GERADO POR REFLEXÃO DE UM FEIXE PRINCIPAL E UMA PLURALIDADE DE FEIXES LATERAIS EM UM PORTADOR DE REGISTRO DE CAMADA MÚLTIPLA, E, DISPOSITIVOS DE CAPTURA PARA UM PORTADOR DE REGISTRO DE CAMADA MÚLTIPLA E DE ACIONAMENTO PARA FORNECER ACESSO A UM PORTADOR DE REGISTRO DE CAMADA MÚLTIPLA. A presente invenção se refere a uma configuração de detector, dispositivo de captura e dispositivo de guia para portador de registros várias camadas, onde meios detectores de feixe principal e dois pares de meios detectores de feixes secundários dispostos em lados opostos dos meios de detecção de feixe principal são fornecidos para suprimir efeitos de interferência. Como um exemplo, os dois sistemas de três pontos de luz obtidos podem ser usados para sinais de erro de foco e sinais de erro de rastreamento, respectivamente, onde pontos de luz colaterais podem ser controlados para ter um padrão de franja desejado ou em fase ou fora de fase com aquele do feixe principal. Além da redução de erros de foco e de rastreamento, as medidas acima permitem reduzir espessura da camada de espaçamento.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2203 de 26/03/2013.

06/08/2013

RPI 2222

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente 7a. anuidade.

26/03/2013

RPI 2203

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

25/02/2009

RPI 1990

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