SISTEMA E MÉTODO PARA A CARACTERIZAÇÃO DE UMA AMOSTRA POR MEIO DE ESPECTROS DE BAIXA FREQÜÊNCIA

Classificação IPC

Prioridades unionistas

Resumo técnico

"SISTEMA E MÉTODO PARA A CARACTERIZAÇÃO DE UMA AMOSTRA POR MEIO DE ESPECTROS DE BAIXA FREQÜÊNCIA". A presente invenção refere-se a um método e a um aparelho para a análise de uma amostra que exibe uma rotação molecular que são descritos. Na prática do método, a amostra é colocada em um recipiente com uma blindagem magnética e uma blindagem eletromagnética, e um ruído Gaussiano sendo injetado na amostra. Um sinal de domínio de tempo eletromagnético composto de uma radiação de fonte de amostra superposta no ruído Gaussiano injetado é detectado, e este sinal é usado para gerar um gráfico espectral que exibe, em uma definição de potência selecionada da fonte de ruído Gaussiano, componentes espectrais de baixa freqüência característicos da amostra em uma faixa de freqüência selecionada entre DC e 50 kHz. Em uma modalidade, o gráfico espectral que é gerado é um histograma de eventos de ressonância estocásticos na faixa de freqüência selecionada. A partir deste espectro, um ou mais componentes de sinal de baixa freqüência característicos da amostra que é analisada são identificados.