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Dado oficial do INPI

MÉTODO DE FORMAÇÃO DE UMA IMAGEM ESQUIAGRÁFICA DE UM OBJETO, E MÉTODO PARA DETERMINAÇÃO DA QUALIDADE ÓTICA DE UM ENVIDRAÇAMENTO

Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · GB2004001093

Dados do pedido

Número

PI0408235

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

15/03/2004

Publicação

01/03/2006

PCT

GB2004001093

Andamento no INPI

  1. Depósito15/03/04
  2. Publicação01/03/06
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 28/07/2015. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Pilkington PLC

GB

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Inventores

B. H. (pessoa física)

GB

S. A. (pessoa física)

GB

Dados técnicos

Prioridades unionistas

GB

0307345.9 · 29/03/2003

Resumo técnico

"MÉTODO DE FORMAÇÃO DE UMA IMAGEM ESQUIAGRÁFICA DE UM OBJETO, E MÉTODO PARA DETERMINAÇÃO DA QUALIDADE ÓTICA DE UM ENVIDRAÇAMENTO". Um método de formação de uma imagem esquiagráfica é descrito, compreendendo as etapas de iluminar um envidraçamento um envidraçamento (52), por ex., um envidraçamento de uso automotivo, com luz proveniente de uma fonte de luz localizada (50), a referida luz sendo expandida e colimada através de um sistema ótico por lentes (54) ou um sistema ótico por espelhos; formar uma imagem esquiagráfica virtual do envidraçamento em um plano imagem virtual (56), o qual pode estar posicionado atrás ou diante do envidraçamento; e imagear a imagem virtual por sobre uma câmera CCD 62). O envidraçamento pode se movimentar relativamente à fonte de luz ou pode estar estacionário. Além disso, um método de inspeção de envidraçamento é descrito, compreendendo formar uma imagem esquiagráfica como delineado acima, processar a imagem esquiagráfica para excluir pontos de medição correspondentes a áreas de obscurecimento do envidraçamento como pontos de medição não válidos; obter uma imagem processada mediante determinar um valor de iluminação para cada ponto de medição válido; construir uma imagem de referência mediante mapear por varredura uma janela de convolução ponto por ponto sobre a imagem processada; e comparar o valor de iluminação do ponto correspondente da imagem de referência.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2307 de 24/03/2015.

28/07/2015

RPI 2325

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 11ª anuidade.

24/03/2015

RPI 2307

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

01/03/2006

RPI 1834

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