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Dado oficial do INPI

PROCESSO PARA INDUZIR, AUMENTAR E CONTROLAR A CRIAÇÃO DE CENTROS DE DEFEITOS ASSOCIADOS À FOTOSENSITIVIDADE E GERAÇÃO DO SEGUNDO HARMÔNICO EM PREFORMAS DE SiO2:GeO2 FABRICADAS PELA TÉCNICA DE DEPOSIÇÃO AXIAL EM FASE VAPOR (VAD)

Em AnálisePatente de Invenção

Dados do pedido

Número

PI0404965

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

16/11/2004

Publicação

21/02/2007

Andamento no INPI

  1. Depósito16/11/04
  2. Publicação21/02/07
  3. Exame
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Publicado em 21/02/2007, o pedido aguarda o exame técnico do INPI, que decide se a invenção cumpre os requisitos de patenteabilidade.

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Última movimentação publicada pelo INPI: 25/11/2014. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

C. Z. (pessoa física)

SP, BR

Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo - FAPESP

SP, BR

R. R. (pessoa física)

SP, BR

Universidade Estadual de Campinas - UNICAMP

SP, BR

Inventores

C. Z. (pessoa física)

BR

R. R. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Resumo técnico

"PROCESSO PARA INDUZIR, AUMENTAR E CONTROLAR A CRIAÇÃO DE CENTROS DE DEFEITOS ASSOCIADOS À FOTOSENSITIVIDADE E GERAÇÃO DO SEGUNDO HARMÔNICO EM PREFORM-AS DE SiO~ 2~:GeO~ 2~ FABRICADAS PELA TÉCNICA DE DEPOSIÇÃO AXIAL EM FASE VAPOR (VAD)". A presente invenção esta relacionada com o desenvolvimento de novo processo de preparação de vidros de SiO~ 2~:GeO~ 2~ (sílica - germânia) pela técnica de deposição axial em fase vapor (VAD), para intensificar a resposta não-linear do material. O processo é baseado no controle dos centros de defeitos que são associados às propriedades eletro - ópticas, tais como a fotosensitividade e a geraçao do segundo harmônico, através dos parâmetros do processo de preparação de preformas vítreas de SiO~ 2~:GeO~ 2~. Desenvolveram-se duas fases do processo para induzir, controlar e aumentar a formação destes defeitos e com isto obter um material óptico baseado no vidro de SiO~ 2~ :GeO~ 2~ no qual seu comportamento não linear pode ser controlado a partir do conteúdo dos centros de defeitos introduzidos no vidro através dos parâmetros usados durante a preparação do material, reduzindo-se ao mínimo o número de passos no processo de síntese do vidro de SiO~ 2~ :GeO~ 2~ com alto desempenho na geração de centros de defeitos responsáveis pelas propriedades ópticas não-lineares de segunda ordem.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

136

Recorrente: O depositante.@Despacho: De acordo com o artigo 219 inciso I da Lei 9279/96 a petição 018130040364 de 11/12/2013 VP, é não conhecida por estar fora do prazo legal estipulado no Art. 212 da LPI 9279/96.[136]

25/11/2014

RPI 2290

Indeferimento mantido em recurso

#9.2.4

MANTIDO O INDEFERIMENTO UMA VEZ QUE NÃO FOI APRESENTADO RECURSO DENTRO DO PRAZO LEGAL.

15/10/2013

RPI 2232

Indeferimento

#9.2

Indefiro o pedido de acordo com o(s) artigo(s) da LPI

19/03/2013

RPI 2202

Anulação de publicação (variante)

#15.22

Reconhecido obstáculo administrativo e devolvido o prazo de 17 dias, nos termos do artigo 221 § 2º da LPI e Resolução 116/2004.

07/08/2012

RPI 2170

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

02/05/2012

RPI 2156

Transferência deferida

#25.1

Transferido parte dos Direitos de: Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo - FAPESP

21/02/2007

RPI 1885

Publicação do pedido de patente

#3.1

21/02/2007

RPI 1885

Transferência deferida

#25.1

Transferido de: Raul Fernando Cuevas Rojas e Carlos Kenichi Suzuki

19/12/2006

RPI 1876

Transferência em exigência

#25.3

A fim de atender o solicitado na Petição de Transferência nº 018060015992/SP de 20/02/2006, queira apresentar procuração emitida pela cessionária.

05/09/2006

RPI 1861

Transferência em exigência

#25.3

A fim de atender ao Pedido de Transferência, solicitado na Petição nº 005007/SP de 21/03/2005, reapresente o documento de cessão com as assinaturas dos Cedentes e Cessionários.

03/01/2006

RPI 1826

Pedido de patente depositado

#2.1

04/01/2005

RPI 1774

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