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Dado oficial do INPI

ESPECTROMETRIA DE ESPALHAMENTO DE RAIOS X (EERX) ASSOCIADA A QUIMIOMETRIA

ConcedidaPatente de Invenção

Dados do pedido

Número

PI0400867

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

02/03/2004

Publicação

08/11/2005

Andamento no INPI

  1. Depósito02/03/04
  2. Publicação08/11/05
  3. Exame
  4. Deferimento18/07/17
  5. Concessão22/08/17
  6. Em vigor02/03/24

Patente concedida em 22/08/2017 e em vigor até 02/03/2024. Até lá, ninguém pode fabricar, usar ou vender a invenção no Brasil sem autorização do titular.

Proteção válida até:02/03/2024

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Depositantes e inventores

Depositantes

Universidade Estadual de Campinas - Unicamp

SP, BR

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Inventores

A. S. (pessoa física)

BR

M. B. (pessoa física)

BR

M. C. (pessoa física)

BR

Dados técnicos

Classificação IPC

Resumo técnico

"ESPECTROMETRIA DE ESPALHAMENTO DE RAIOS X (EERX) ASSOCIADA A QUIMIOMETRIA". A presente invenção refere-se ao desenvolvimento, otimização e avaliação de um método de análise para substâncias orgânicas e inorgânicas, utilizando espalhamento de fontes de raios X, com resolução alcançada pela utilização de ferramentas quimiométricas. Nesse novo método, as amostras de natureza orgânica ou inorgânica são submetidas à radiação X. Os espectros obtidos são organizados sob a forma de matriz e os dados, quando multivariados são tratados utilizando quimiometria. Se não, utiliza-se tratamento univariado. Desta forma, podem ser obtidas informações tanto de natureza qualitativa quanto quantitativa. Este novo método denominado de Espectrometria de Espalhamento de Raios X (EERX) foi desenvolvido, otimizado e avaliado em duas aplicações analíticas. A primeira relacionada à classificação de amostras como padrões úteis em análise ambiental e de metabolismo animal e, a outra, relacionada com medição quantitativa da massa molar de polímeros naturais orgânicos.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Republicação - classificação IPC

#15.11

Reclassificação automática - A classificação anterior era: G01N 23/225

05/10/2021

RPI 2648

Concessão da patente

#16.1

22/08/2017

RPI 2433

Deferimento

#9.1

18/07/2017

RPI 2428

Exigência - art. 36 da LPI

#6.1

17/01/2017

RPI 2402

Conhecimento de parecer técnico

#7.1

21/06/2016

RPI 2372

Publicação do pedido de patente

#3.1

08/11/2005

RPI 1818

Pedido de patente depositado

#2.1

22/06/2004

RPI 1746

Monitoramento de patentes

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