MEDIDOR DE PARÂMETROS ÓPTICOS E MÉTODO DE CARACTERIZAÇÃO DE PARÂMETROS ÓPTICOS DE DISPOSITIVO ÓPTICOS MULTI-PORTAS

Classificação IPC

Resumo técnico

"MEDIDOR DE PARÂMETROS ÓPTICOS E MÉTODO DE CARACTERIZAÇÃO DE PARÂMETROS ÓPTICOS DE DISPOSITIVOS ÓPTICOS MULTI-PORTAS". Compreendendo meios de controle do processo de caracterização, uma ou mais fontes de sinal óptico de teste (fonte de laser sintonizável), circuitaria óptica contendo fibras ópticas e diversos outros componentes ópticos de modo a constituir um arranjo óptico interferométrico, conectores ópticos, interfaces optoeletrônicas, fotodetectores, circuitaria eletrônica analógica, circuitaria eletrônica digital para processamento digital de sinais e circuitaria eletrônica de aquisição de dados, no qual os sinais ópticos de teste e os sinais ópticos de referência percorrem percursos de comprimentos quaisquer, comprimentos estes que podem ser idênticos ou distintos, sendo os sinais ópticos dos braços do interferômetro modulados na fase e/ou na freqüência. O invento é dotado de recursos que o tornam imune às vibrações e às variações de temperatura. O invento descreve a transferência de sinais ópticos entre as diversas portas do dispositivo sob teste (DUT) através de Parâmetros 'S' ópticos, onde cada parâmetro 'S~ xy~' é representado utilizando formalismos de Jones (matriz de Jones) e/ou de Müller (matriz de Müller). A partir da matriz de parâmetros 'S' são derivadas todas as características ópticas do DUT, tais como: largura de banda passante, fase, tempo de atraso, dispersão cromática, dispersão de 2a ordem, refletância, coeficiente de reflexão, transmitância da porta 'y' para a porta 'x' e vice-versa, coeficiente de transmissão da porta 'y' para a porta 'x' e vice-versa, perda de inserção, perda dependente de polarização, dispersão do modo de polarização (DGD/PMD), DGD de 2a ordem, etc..