(11) 98705-3426
TrademarkIQ íconeTrademarkIQ
Voltar para busca
Dado oficial do INPI

SISTEMA ANALÍTICO PARA ANALISAR E CONTROLAR UM PROCESSO DE PRODUÇÃO DE PRODUTOS DE VIDRO, E, MÉTODOS DE ANALISAR E CONTROLAR UM PROCESSO DE PRODUÇÃO PARA PRODUTOS DE VIDRO

Arquivada/ExtintaPatente de InvençãoPCT · NL2003000547

Dados do pedido

Número

PI0313057

Tipo

Patente de Invenção

Depósito

30/07/2003

Publicação

02/08/2005

PCT

NL2003000547

Andamento no INPI

  1. Depósito30/07/03
  2. Publicação02/08/05
  3. Arquivado
  4. Deferimento
  5. Concessão
  6. Em vigor

Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.

Falar com um especialista

Última movimentação publicada pelo INPI: 20/09/2011. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.

Depositantes e inventores

Depositantes

Centrum Voor Technische Informatica B.V.

NL

Xpar Vision B.V.

NL

Inventores

J. D. (pessoa física)

NL

Dados técnicos

Classificação IPC

Prioridades unionistas

NL

1021182 · 30/07/2002

Resumo técnico

"SISTEMA ANALÍTICO PARA ANALISAR E CONTROLAR UM PROCESSO DE PRODUÇÃO DE PRODUTOS DE VIDRO, E, MÉTODO DE ANALISAR E CONTROLAR UM PROCESSO DE PRODUÇÃO PARA PRODUTOS DE VIDRO". Um sistema analítico para analisar e controlar um processo de modelagem de produtos de vidro é descrito. O sistema analítico compreende um sistema de medição sensível a infravermelho e um processador em comunicação com o mesmo, o sistema de medição sensível a infravermelho sendo equipado para medir radiação infravermelho originária de produtos de vidro quentes imediatamente após o processo de modelagem dos produtos de vidro, e o processador sendo equipado para determinar uma distribuição de calor nos produtos de vidro com base na informação determinada pelo sistema de medição. Devido ao sistema de medição sensível a infravermelho ser sensível apenas à radiação na assim chamada região de infravermelho próximo (NIR), radiação originária do interior da parede de vidro pode ser determinada. Isto torna possíveis métodos analíticos inéditos com os quais, inter alia, uma distinção pode ser feita entre uma mudança na espessura de parede de vidro e uma mudança na temperatura.

Histórico de despachos

Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).

Arquivamento definitivo por descumprimento

#8.11

Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2064 de 27/07/2010.

20/09/2011

RPI 2124

Arquivamento por falta de pagamento

#8.6

Referente à 5ª, 6ª e 7ª anuidade(s),

27/07/2010

RPI 2064

Transferência deferida

#25.1

Transferido de: Xpar Vision B.V.

05/09/2006

RPI 1861

Notificação de entrada na fase nacional - PCT

#1.3

02/08/2005

RPI 1804

Monitoramento de patentes

Acompanhe esta patente em tempo real.

Receba alertas de despachos, decisões e vencimentos do INPI para o seu portfólio.