Arquivamento definitivo por descumprimento
#8.11
Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2064 de 27/07/2010.
20/09/2011
RPI 2124
Dados do pedido
Número
PI0313057Tipo
Depósito
Publicação
PCT
NL2003000547 Pedido arquivado por falta de pagamento das anuidades (art. 86 da LPI). A tecnologia está em domínio público no Brasil.
Falar com um especialistaÚltima movimentação publicada pelo INPI: 20/09/2011. Atualizamos a cada nova RPI, publicada semanalmente.
Depositantes
Centrum Voor Technische Informatica B.V.
NL
Xpar Vision B.V.
NL
Inventores
J. D. (pessoa física)
NL
Classificação IPC
Prioridades unionistas
NL
1021182 · 30/07/2002
Resumo técnico
"SISTEMA ANALÍTICO PARA ANALISAR E CONTROLAR UM PROCESSO DE PRODUÇÃO DE PRODUTOS DE VIDRO, E, MÉTODO DE ANALISAR E CONTROLAR UM PROCESSO DE PRODUÇÃO PARA PRODUTOS DE VIDRO". Um sistema analítico para analisar e controlar um processo de modelagem de produtos de vidro é descrito. O sistema analítico compreende um sistema de medição sensível a infravermelho e um processador em comunicação com o mesmo, o sistema de medição sensível a infravermelho sendo equipado para medir radiação infravermelho originária de produtos de vidro quentes imediatamente após o processo de modelagem dos produtos de vidro, e o processador sendo equipado para determinar uma distribuição de calor nos produtos de vidro com base na informação determinada pelo sistema de medição. Devido ao sistema de medição sensível a infravermelho ser sensível apenas à radiação na assim chamada região de infravermelho próximo (NIR), radiação originária do interior da parede de vidro pode ser determinada. Isto torna possíveis métodos analíticos inéditos com os quais, inter alia, uma distinção pode ser feita entre uma mudança na espessura de parede de vidro e uma mudança na temperatura.
Publicações na Revista da Propriedade Industrial (RPI).
#8.11
Referente ao despacho 8.6 publicado na RPI 2064 de 27/07/2010.
20/09/2011
RPI 2124
#8.6
Referente à 5ª, 6ª e 7ª anuidade(s),
27/07/2010
RPI 2064
#25.1
Transferido de: Xpar Vision B.V.
05/09/2006
RPI 1861
#1.3
02/08/2005
RPI 1804
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